ГОСТ Р 53696-2009
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Контроль неразрушающий
МЕТОДЫ ОПТИЧЕСКИЕ
Термины и определения
Non-destructive testing. Optical methods. Terms and definitions
ОКС 19.100
Дата введения 2011-01-01
Предисловие
1 РАЗРАБОТАН Федеральным государственным унитарным предприятием "Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений" (ФГУП "ВНИИОФИ")
2 ВНЕСЕН Управлением по метрологии Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии
3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 15 декабря 2009 г. N 1100-ст
4 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
5 ПЕРЕИЗДАНИЕ. Апрель 2019 г.
Правила применения настоящего стандарта установлены в статье 26 Федерального закона от 29 июня 2015 г. N 162-ФЗ "О стандартизации в Российской Федерации". Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе "Национальные стандарты", а официальный текст изменений и поправок - в ежемесячном информационном указателе "Национальные стандарты". В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя "Национальные стандарты". Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.gost.ru)
Введение
Установленные в стандарте термины, отражающие понятия в области оптического неразрушающего контроля, расположены в систематизированном порядке, отражающем систему понятий данной области знания.
Для каждого понятия установлен один стандартизованный термин. Некоторые термины сопровождены краткими формами, которые следует применять в случаях, исключающих возможность их различного толкования.
Установленные определения можно при необходимости изменять по форме изложения, не допуская нарушения границ понятий.
В случаях, когда необходимые и достаточные признаки понятия содержатся в буквальном значении термина, определение не приведено, вместо него поставлен прочерк.
Стандартизованные термины набраны полужирным шрифтом, их краткая форма - светлым.
В стандарт включены алфавитный указатель содержащихся в нем стандартизованных терминов на русском языке, справочное приложение А, в котором приведены термины общих физических понятий и технические термины, применяемые при оптическом неразрушающем контроле, и справочное приложение Б, в котором приведены термины приборов, применяемых при оптическом неразрушающем контроле.
1 Область применения
Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины и определения основных понятий в области оптического неразрушающего контроля качества материалов, полуфабрикатов и изделий (далее - объекты контроля).
Термины, установленные стандартом, предназначены для применения в документации всех видов, научно-технической, учебной и справочной литературе.
2 Термины и определения
2.1 Основные понятия
2.1.1 оптический неразрушающий контроль; оптический контроль: Неразрушающий контроль, основанный на анализе взаимодействия оптического излучения с объектом контроля.
2.1.2 контраст дефекта: Отношение разности энергетических яркостей дефекта и окружающего его фона к одной из них либо их сумме.
2.1.3 видимость дефекта: Отношение фактического контраста дефекта к его пороговому значению в заданных условиях.
2.2 Методы оптического неразрушающего контроля
2.2.1 метод прошедшего оптического излучения; метод прошедшего излучения: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, прошедшего сквозь объект.
2.2.2 метод отраженного оптического излучения: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, отраженного от объекта контроля.
2.2.3 метод рассеянного оптического излучения; метод рассеянного излучения: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, рассеянного от объекта контроля.
2.2.4 метод собственного оптического излучения; метод собственного излучения: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров собственного излучения объекта контроля.
2.2.5 метод индуцированного оптического излучения; метод индуцированного излучения: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, генерируемого объектом контроля при постороннем воздействии.
2.2.6 спектральный метод оптического излучения; спектральный метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе спектра оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.
2.2.7 когерентный метод оптического излучения; когерентный метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на измерении степени когерентности оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.
2.2.8 амплитудный метод оптического излучения; амплитудный метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации интенсивности оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.
2.2.9 временной метод оптического излучения; временной метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации времени прохождения оптического излучения через объект контроля.
2.2.10 геометрический метод оптического излучения; геометрический метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации направления оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.
2.2.11 поляризационный метод оптического излучения; поляризационный метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации степени поляризации оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.
2.2.12 фазовый метод оптического излучения; фазовый метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации фазы оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.
2.2.13 интерференционный метод оптического излучения; интерференционный метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе интерференционной картины, получаемой при взаимодействии когерентных волн, опорной и модулированной объектом контроля.
2.2.14 дифракционный метод оптического излучения; дифракционный метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе дифракционной картины, получаемой при взаимодействии когерентного оптического излучения с объектом контроля.
2.2.15 рефракционный метод оптического излучения; рефракционный метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров преломления оптического излучения объектом контроля.
2.2.16 абсорбционный метод оптического излучения; абсорбционный метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров поглощения оптического излучения объектом контроля.
2.2.17 визуально-оптический метод оптического излучения; визуально-оптический метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на наблюдении объекта контроля или его изображения с помощью оптических или оптико-электронных приборов.
2.2.18 фотохимический метод оптического излучения; фотохимический метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров фотохимических процессов, возникающих при взаимодействии оптического излучения с объектом контроля.
2.2.19 оптико-акустический метод оптического излучения; оптико-акустический метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров оптико-акустического эффекта, возникающего при взаимодействии оптического излучения с объектом контроля.
2.2.20 фотолюминесцентный метод оптического излучения; фотолюминесцентный метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров люминесценции, возникающей при взаимодействии оптического излучения с объектом контроля.
2.2.21 электрооптический метод оптического излучения; электрооптический метод: Поляризационный метод оптического неразрушающего контроля, основанный на дополнительном воздействии на объект контроля внешнего электрического поля.
2.2.22 магнитооптический метод оптического излучения; магнитооптический метод: Поляризационный метод оптического неразрушающего контроля, основанный на дополнительном воздействии на объект контроля магнитного поля.
2.2.23 метод согласованной фильтрации оптического излучения; метод согласованной фильтрации: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе изображения объекта контроля с помощью оптического согласованного фильтра.
2.2.24 метод разностного оптического изображения; метод разностного изображения: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации различий в изображениях объекта контроля и контрольного образца.
2.2.25 метод фотоэлектрического оптического излучения; метод фотоэлектрического излучения: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров фотоэлектрического эффекта, возникающего при облучении объекта контроля оптическим излучением.
2.2.26 метод спекл-интерферометрии оптического излучения; метод спекл-интерферометрии: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на использовании пространственной корреляции интенсивности диффузно-когерентного оптического излучения для получения интерференционных топограмм объекта контроля.
2.2.27 метод спекл-структур оптического излучения; метод спекл-структур: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе спекл-структур, образующихся при отражении когерентного оптического излучения от шероховатости поверхности объекта контроля.
2.2.28 метод муаровых полос: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе топограмм объекта контроля, получаемых с помощью оптически сопряженных растров.
2.2.29 фотоимпульсный метод контроля геометрических размеров изделия; фотоимпульсный метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на измерении длительности импульсов оптического излучения, пропорциональных геометрическим размерам объекта контроля и получаемых с помощью сканирования его изображения.
2.2.30 фотокомпенсационный метод контроля геометрических размеров изделия; фотокомпенсационный метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на измерении изменений интенсивности оптического излучения, вызванных отклонением геометрических размеров объекта контроля от контрольного образца.
2.2.31 фотоследящий метод контроля геометрических размеров изделия; фотоследящий метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации перемещений фотоследящего устройства, пропорциональных изменению геометрических размеров объекта контроля.
2.2.32 голографический метод оптического неразрушающего контроля; голографический метод: -
2.3 Средства оптического неразрушающего контроля
2.3.1 прибор неразрушающего контроля оптический: Система, состоящая из осветительных, оптических и регистрирующих устройств, а также средств калибровки и настройки, предназначенная для оптического неразрушающего контроля.
Примечание - При наличии у прибора оптического неразрушающего контроля нормируемых метрологических характеристик он может использоваться в качестве измерительного прибора.
2.3.2 источник излучения прибора оптического неразрушающего контроля; источник излучения: Часть прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная для облучения или освещения объекта контроля.
2.3.3 оптическая система: Часть прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная для формирования пучков оптического излучения, несущих информацию об объекте контроля.
2.3.4 приемное устройство: Часть прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная для регистрации первичного информативного параметра оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.
Примечание - В зависимости от вида регистрации различают фотоэлектрическое, фотографическое и другие приемные устройства.
2.3.5 оптический дефектоскоп: Прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для обнаружения несплошностей и неоднородностей материалов и изделий.
2.3.6 лазерный эллипсометр: Прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для измерения толщины и (или) показателя преломления прозрачных пленок поляризационным методом.
2.3.7 оптический структуроскоп: Прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для анализа структуры и (или) физико-химических свойств материалов и изделий.
2.3.8 оптический толщиномер: Прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для измерения толщины объектов контроля и (или) глубины залегания дефектов.
2.4 Освещение объекта контроля
2.4.1 световое сечение: Освещение объекта контроля плоским пучком света для получения изображения его рельефа.
2.4.2 темное поле: Освещение объекта контроля, при котором яркость его дефектов больше яркости поверхности, на которой они расположены.
2.4.3 светлое поле: Освещение объекта контроля, при котором яркость его дефектов меньше яркости поверхности, на которой они расположены.
2.4.4 стробоскопическое облучение: Облучение объекта контроля модулизированным оптическим излучением, частота и фаза которого синхронизированы с движением объекта контроля.
2.4.5 когерентное облучение: Облучение объекта контроля когерентным излучением.
2.4.6 монохроматическое облучение: -
2.4.7 полихроматическое облучение: Облучение объекта контроля полихроматическим оптическим излучением.
2.4.8 сканирующее облучение: Облучение объекта контроля оптическим излучением с применением сканирования.
2.4.9 телецентрическое облучение: Облучение объекта контроля параллельным пучком оптического излучения.
2.4.10 стигматическое облучение: Облучение объекта контроля точечным источником оптического излучения.
Алфавитный указатель терминов
Видимость дефекта | 2.1.3 |
Дефектоскоп оптический | 2.3.5 |
Источник излучения | 2.3.2 |
Источник излучения прибора оптического неразрушающего контроля | 2.3.2 |
Контраст дефекта | 2.1.2 |
Контроль неразрушающий оптический | 2.1.1 |
Контроль оптический | 2.1.1 |
Метод абсорбционный | 2.2.16 |
Метод амплитудный | 2.2.8 |
Метод визуально-оптический | 2.2.17 |
Метод временной | 2.2.9 |
Метод геометрический | 2.2.10 |
Метод голографический | 2.2.32 |
Метод дифракционный | 2.2.14 |
Метод индуцированного излучения | 2.2.5 |
Метод индуцированного оптического излучения | 2.2.5 |
Метод интерференционный | 2.2.13 |
Метод когерентный | 2.2.7 |
Метод контроля геометрических размеров изделия фотоимпульсный | 2.2.29 |
Метод контроля геометрических размеров изделия фотокомпенсационный | 2.2.30 |
Метод контроля геометрических размеров изделия фотоследящий | 2.2.31 |
Метод магнитооптический | 2.2.22 |
Метод муаровых полос | 2.2.28 |
Метод оптико-акустический | 2.2.19 |
Метод оптического излучения абсорбционный | 2.2.16 |
Метод оптического излучения амплитудный | 2.2.8 |
Метод оптического излучения визуально-оптический | 2.2.17 |
Метод оптического излучения временной | 2.2.9 |
Метод оптического излучения геометрический | 2.2.10 |
Метод оптического излучения дифракционный | 2.2.14 |
Метод оптического излучения интерференционный | 2.2.13 |
Метод оптического излучения когерентный | 2.2.7 |
Метод оптического излучения магнитооптический | 2.2.22 |
Метод оптического излучения оптико-акустический | 2.2.19 |
Метод оптического излучения поляризационный | 2.2.11 |
Метод оптического излучения рефракционный | 2.2.15 |
Метод оптического излучения спектральный | 2.2.6 |
Метод оптического излучения фазовый | 2.2.12 |
Метод оптического излучения фотолюминесцентный | 2.2.20 |
Метод оптического излучения фотохимический | 2.2.18 |
Метод оптического излучения электрооптический | 2.2.21 |
Метод оптического неразрушающего контроля голографический | 2.2.32 |
Метод отраженного оптического излучения | 2.2.2 |
Метод поляризационный | 2.2.11 |
Метод прошедшего излучения | 2.2.1 |
Метод прошедшего оптического излучения | 2.2.1 |
Метод разностного изображения | 2.2.24 |
Метод разностного оптического изображения | 2.2.24 |
Метод рассеянного излучения | 2.2.3 |
Метод рассеянного оптического излучения | 2.2.3 |
Метод рефракционный | 2.2.15 |
Метод собственного излучения | 2.2.4 |
Метод собственного оптического излучения | 2.2.4 |
Метод согласованной фильтрации | 2.2.23 |
Метод согласованной фильтрации оптического излучения | 2.2.23 |
Метод спекл-интерферометрии | 2.2.26 |
Метод спекл-интерферометрии оптического излучения | 2.2.26 |
Метод спекл-структур | 2.2.27 |
Метод спекл-структур оптического излучения | 2.2.27 |
Метод спектральный | 2.2.6 |
Метод фазовый | 2.2.12 |
Метод фотоимпульсный | 2.2.29 |
Метод фотокомпенсационный | 2.2.30 |
Метод фотолюминесцентный | 2.2.20 |
Метод фотоследящий | 2.2.31 |
Метод фотохимический | 2.2.18 |
Метод фотоэлектрического излучения | 2.2.25 |
Метод фотоэлектрического оптического излучения | 2.2.25 |
Метод электрооптический | 2.2.21 |
Облучение когерентное | 2.4.5 |
Облучение монохроматическое | 2.4.6 |
Облучение полихроматическое | 2.4.7 |
Облучение сканирующее | 2.4.8 |
Облучение стигматическое | 2.4.10 |
Облучение стробоскопическое | 2.4.4 |
Облучение телецентрическое | 2.4.9 |
Поле светлое | 2.4.3 |
Поле темное | 2.4.2 |
Прибор неразрушающего контроля оптический | 2.3.1 |
Сечение световое | 2.4.1 |
Система оптическая | 2.3.3 |
Структуроскоп оптический | 2.3.7 |
Толщиномер оптический | 2.3.8 |
Устройство приемное | 2.3.4 |
Эллипсометр лазерный | 2.3.6 |
Приложение А
(справочное)
Термины общих физических понятий и технические термины, применяемые при оптическом неразрушающем контроле
А.1 спекл-структура: Случайное распределение интенсивности, характерное для диффузно-когерентного излучения.
А.2 сканирование: Анализ исследуемого пространства путем последовательного его просмотра при передвижении мгновенного поля зрения по полю обзора.
Приложение Б
(справочное)
Термины приборов, применяемых при оптическом неразрушающем контроле
Б.1 эндоскоп: Оптический прибор, имеющий осветительную систему и предназначенный для осмотра внутренних поверхностей объекта контроля.
Б.2 оптический компаратор: Оптический прибор, предназначенный для одновременного наблюдения объекта контроля и контрольного образца.
Б.3 субтрактивный видеоанализатор: Оптический прибор для формирования разностного изображения объекта контроля и контрольного образца.
Б.4 оптический дисдрометр: Оптический прибор для анализа объемного распределения микрочастиц в контролируемой среде.
УДК 620.179:006.354 | ОКС 19.100 |
Ключевые слова: оптический неразрушающий контроль, методы оптические, оптическое излучение, оптический дефектоскоп, контраст дефекта, оптическая система | |
Электронный текст документа
и сверен по:
, 2019
