ГОСТ 21815.10-86 Преобразователи электронно-оптические. Метод измерения электронно-оптического увеличения

Обложка ГОСТ 21815.10-86 Преобразователи электронно-оптические. Метод измерения электронно-оптического увеличения
Обозначение
ГОСТ 21815.10-86
Наименование
Преобразователи электронно-оптические. Метод измерения электронно-оптического увеличения
Статус
Действует
Дата введения
1988.01.01
Дата отмены
-
Заменен на
-
Код ОКС
31.100

УДК W1J»J.IM3.U

Группа 3W

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА

ССР

ПРЕОБРАЗОВАТЕЛИ ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИЕ

Метод измерения злектромио-оптического увеличения

Image: intensifier and image converter tubes. Method of measuring the electron optic magnification

ОКП 6Э49ЭО

ГОСТ 2I8I5.I0-86

Взамен ГОСТ 21815—76 • части п. 4.11

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 26 сентября 1986 г. Не 2908 срок действия установлен

с 01.01.88 до 01.01.93

Несоблюдение стандарта преследуется по закону

Настоящий стандарт устанавливает метод измерения электронно оптического увеличения электронно-оптических преобразователей (ЭОП), предназначенных для применения в приборах видения.

Общие требования к проведению измерения и требования безопасности по ГОСТ 21815.0—86.

1. ПРИНЦИП ИЗМЕРЕНИЯ

1.L Принцип измерения электронно-оптического увеличения состоит я определении отношения диаметра изображения окружности на экране к размеру диаметра окружности на фотокатоде ЭОП..

1 ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ АППАРАТУРА

2.1. Для измерения электронно-оптического увеличения следует применять измерительные приборы и вспомогательные устройства. входящие в установку, функциональная схема которой приведена на чертеже.

2.2. Элементы схемы должны удовлетворять следующим требованиям: микроскоп должен иметь окулярную сетку со- шкалой.

Издание ©финальное

Перепечатке воспрещена

50

ГОСТ lUlS.IB—М Стр. 2

цена деления которой, приведенная к плоскости экрана ЭОП, не более 0,05 мм, увеличение не менее 10х.

При измерении увеличения на краю рабочего поля ЭОП допускается использование микроскопа с увеличением не менее 5х.

Микроскоп устанавливают на основание, имеющее горизонтальное (поперечное и осевое) и вертикальное плавные микрометрические перемещения и отсчетные шкалы.

/—источник слета, /-(ветомвипм джафрагма; J-диафрагм# с st-чбрмамии отаер-стаасм ^—ЭОЛ: .5—микроскоп; «-фототопод; 7—Тйржат«-л ЭОЛ; i-жрм

Для измерения увеличения используют также проекционную систему, состоящую из коллимационного- объектива, в фокусе которого располагается сетка с окружностью соответствующего диаметра или диафрагма с калиброванным отверстием.

Диаметры изображений проектируемой окружности сетки млн калиброванного отверстия диафрагмы указывают в стандартах или технических условиях на ЭОП конкретного типа.

3. ПОДГОТОВКА К ИЗМЕРЕНИЯМ

3.1. Испытуемый ЭОП устанавливают в держатель и соединяют с источником литания.

3.2. На ЭОП полают напряжения, указанные в стандартах или технических условиях на ЭОП конкретного типа.

3.3. На минимальном расстоянии от входа ЭОП, допускаемом конструкцией ЭОП и измерительной аппаратурой, устанавливают диафрагму с калиброванным отверстием. Диаметр калиброванного отверстия указывают в стандартах или технических условиях на ЭОП конкретного типа. Центр калиброванного отверстия диафрагмы должен быть совмещен с центром базовой поверхности фотокатодного узла. Точность совмещения центров указывают в стандартах или технических условиях на ЭОП конкретного тилз.

Примечание. При использовании проекционной системы проводит фо-кусврмку и центрировку изображения окружности на фотокатоде испытуемого ЭОП.

-51

Стр. 3 ГОСТ 11I1J.1O-M

3.4. Для исключения влияния на результаты измерений параллакса между плоскостью диафрагмы и плоскостью фотокатода и ■влияния размытия изображения за счет конечных размеров тела накала лампы необходимо, чтобы расстояние L между телом накала или апертурной диафрагмой осветителя и диафрагмой с калиброванным отверстием удовлетворяло условию

£.^.^±±112.100, (I)

* ЦО р

>0

где d— диаметр калиброванного отверстия диафрагмы, мм:

ая—максимальный поперечный размер тела накала лампы или апертурной диафрагмы осветителя, мм:

drw—составляющая погрешности в определении электронно-оптического увеличения, связанная с размытием изображения калиброванного отверстия на фотокатоде и с параллаксом между плоскостью калиброванного отверстия диафрагмы и фотокатодом (устанавливают равной 2%);

/к —расстояние между диафрагмой с калиброванным отверстием и плоскостью фотокатода, мм

W+^. О»)

/1 — расстояние между диафрагмой к катодным стеклом, мм; Ле — толщина катодного стекла, мм;

«I — показатель преломления катодного стекла.

3.5. В схеме (см. чертеж) для освещения калиброванного отверстия диафрагмы допускается применять источник света с кол-лимационным объективом. Фокусное расстояние коллимационного объектива должно удовлетворять условию

/.„>^-1». (2)

4. ПРОВЕДЕНИЕ ИЗМЕНЕНИИ

4.1. На фотокатоде ЭОП устанавливают освещенность, обеспечивающую яркость экрана, достаточную для уверенных наблюдений, если иная не указана в стандартах шли технических условиях на ЭОП конкретного типа.

4.2. Микроскопом измеряют диаметры изображения калиброванного отверстия диафрагмы или изображения окружности сетки на экране в направлениях, указанных в стандартах или технических условиях на ЭОП конкретного типа.

52

TOtT 31«1>.W—«• стр. 4

£ 5. ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ

£ 5.1. Электронно-оптическое увеличение (Г^ ) для каждого

из направлений вычисляют по формуле

о.~4, (3)

где dt —диаметр изображения калиброванного отверстия диафрагмы -или изображения окружности сетки на экране ЭОП, мА;

d —диаметр калиброванного отверстия диафрагмы или 'изображения окружности сетки на фотокатоде испытуемого ЭОП, мм.

5.2. Суммарная относительная погрешность измерения элск-тронно-олтичес кого увеличения (ег^) при соблюдений! требований настоящего стандарта для отношения d/D? >0,05, где Ор — рабочий диаметр фотокатода, при доверительной вероятности Р—0,95 не более:

3.0 % — для стеклянных ЭОП;

2,0 % — для ЭОП с волоконно-оптическим входом и выходом.

53