ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-6-2015 Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 6. Карты близкого действия

Обложка ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-6-2015 Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 6. Карты близкого действия
Обозначение
ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-6-2015
Наименование
Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 6. Карты близкого действия
Статус
Действует
Дата введения
2016.01.07
Дата отмены
-
Заменен на
-
Код ОКС
35.240.15


ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-6-2015

Группа Э49

НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ



Карты идентификационные


МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ


Часть 6


Карты близкого действия


Identification cards. Test methods. Part 6. Proximity cards



ОКС 35.240.15
ОКСТУ 4084

Дата введения 2016-07-01



Предисловие

1 ПОДГОТОВЛЕН Федеральным государственным унитарным предприятием "Всероссийский научно-исследовательский институт стандартизации и сертификации в машиностроении" (ВНИИНМАШ) и Техническим комитетом по стандартизации ТК 22 "Информационные технологии" на основе собственного аутентичного перевода на русский язык стандарта, указанного в пункте 4

2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 22 "Информационные технологии"

3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 22 июня 2015 г. N 773-ст

4 Настоящий стандарт идентичен международному стандарту ИСО/МЭК 10373-6:2011* "Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 6. Карты близкого действия" (ISO/IEC 10373-6:2011 Identification cards - Test methods - Part 6: Proximity cards), включая изменения A1:2012, A2:2012, A3:2012, A4:2012 и поправку Cor.1:2013.
________________
* Доступ к международным и зарубежным документам, упомянутым здесь и далее по тексту, можно получить, перейдя по ссылке на сайт . - .


Изменения и техническая поправка к указанному международному стандарту, принятые после его официальной публикации, внесены в текст настоящего стандарта и выделены двойной вертикальной линией, расположенной на полях напротив соответствующего текста, а обозначение и год принятия изменения (технической поправки) приведены в скобках после соответствующего текста.

При применении настоящего стандарта рекомендуется использовать вместо ссылочных международных стандартов соответствующие им национальные стандарты Российской Федерации, сведения о которых приведены в дополнительном приложении ДА

Некоторые положения международного стандарта, указанного в пункте 4, могут являться объектом патентных прав. Международная организация по стандартизации (ИСО) и Международная электротехническая комиссия (МЭК) не несут ответственности за идентификацию подобных патентных прав

5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ


Правила применения настоящего стандарта установлены в ГОСТ 1.0-2012* (раздел 8). Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе "Национальные стандарты", а официальный текст изменений и поправок - в ежемесячном информационном указателе "Национальные стандарты". В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя "Национальные стандарты". Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.gost.ru)
________________
* Вероятно, ошибка оригинала. Следует читать: ГОСТ Р 1.0-2012. - .

1 Область применения

1 Область применения


Стандарты серии ИСО/МЭК 10373 устанавливают методы испытаний для определения характеристик идентификационных карт, соответствующих определению, приведенному в ИСО/МЭК 7810 (далее - карты). В каждом методе испытания имеется ссылка на один или несколько базовых стандартов, которыми могут быть ИСО/МЭК 7810 либо один или несколько дополнительных стандартов, устанавливающих требования к технологиям хранения информации, применяемым в картах.

Примечание 1 - Критерии оценки результатов испытаний не включены в настоящий стандарт; они установлены в базовых стандартах.

Примечание 2 - Испытания, определенные в настоящем стандарте, следует проводить независимо одно от другого. Любую конкретную карту близкого действия или терминальное оборудование близкого действия не следует подвергать последовательно всем испытаниям.


Настоящий стандарт устанавливает методы испытаний для карт и объектов близкого действия и соответствующего терминального оборудования, требования к которым установлены в ИСО/МЭК 14443-1:2008, ИСО/МЭК 14443-2:2010, ИСО/МЭК 14443-3:2011 и ИСО/МЭК 14443-4:2008. ИСО/МЭК 10373-1 определяет методы испытаний, являющиеся общими для одной или нескольких технологий хранения информации в картах на интегральных схемах, а остальные стандарты серии ИСО/МЭК 10373 устанавливают другие методы испытаний, предназначенные для других технологий.

2 Нормативные ссылки


В настоящем стандарте использованы ссылки на следующие международные стандарты*. Для датированных ссылок следует использовать только указанное издание, для недатированных ссылок следует использовать последнее издание указанного документа, включая все поправки:
_______________
* Таблицу соответствия национальных стандартов международным см. по ссылке. - .


ИСО/МЭК 7810:2003 Карты идентификационные. Физические характеристики (ISO/IEC 7810:2003 Identification cards - Physical characteristics)

ИСО/МЭК 14443-1:2008 Карты идентификационные. Карты на интегральных схемах бесконтактные. Карты близкого действия. Часть 1. Физические характеристики (ISO/IEC 14443-1:2008 Identification cards - Contactless integrated circuit cards - Proximity cards - Part 1: Physical characteristics)

ИСО/МЭК 14443-2:2010 Карты идентификационные. Карты на интегральных схемах бесконтактные. Карты близкого действия. Часть 2. Радиочастотный энергетический и сигнальный интерфейс (ISO/IEC 14443-2:2010 Identification cards - Contactless integrated circuit cards - Proximity cards - Part 2: Radio frequency power and signal interface)

ИСО/МЭК 14443-3:2011 Карты идентификационные. Карты на интегральных схемах бесконтактные. Карты близкого действия. Часть 3. Инициализация и антиколлизия (ISO/IEC 14443-3:2011 Identification cards - Contactless integrated circuit cards - Proximity cards - Part 3: Initialization and anticollision)

ИСО/МЭК 14443-4:2008 Карты идентификационные. Карты на интегральных схемах бесконтактные. Карты близкого действия. Часть 4. Протокол передачи (ISO/IEC 14443-4:2008 Identification cards - Contactless integrated circuit cards - Proximity cards - Part 4: Transmission protocol)

МЭК 61000-4-2:2008 Электромагнитная совместимость. Часть 4-2. Методики испытаний и измерений. Испытание на невосприимчивость к электростатическому разряду [IEC 61000-4-2:2008 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-2: Testing and measurement techniques - Electrostatic discharge immunity test]

3 Термины, определения, обозначения и сокращения


В настоящем стандарте применены термины, определения, сокращения и обозначения по ИСО/МЭК 14443-1:2008, ИСО/МЭК 14443-2:2010, ИСО/МЭК 14443-3:2011, ИСО/МЭК 14443-4:2008, а также следующие термины с соответствующими определениями.

Примечание - Элементы в жирных скобках [ ] являются дополнительными определениями.

3.1 Термины и определения

3.1.1 базовый стандарт (base standard): Стандарт, для проверки соответствия требованиям которого используют данный метод испытания.

3.1.2 СascadeLevels: Число каскадных уровней PICС.

3.1.3 PICC "Класс 1" ("Class 1" PICC): PICC, у которой антенна расположена согласно ИСО/МЭК 14443-1:2008 и которая выдерживает испытание на максимальный эффект нагрузки по 7.2.5 настоящего стандарта в условиях, соответствующих PICC "Класс 1".

3.1.4 набор команд (command set): Набор, описывающий команды, посылаемые PICC во время инициализации и антиколлизии.

Примечание - См. ИСО/МЭК 14443-3:2011 (подраздел 6.4) для PICC типа А и ИСО/МЭК 14443-3:2011 (подраздел 7.5) для PICC типа В.

3.1.5 эффект нагрузки (loading effect): Изменение тока антенны PCD, вызванное присутствием PICC в поле, в результате взаимного изменения резонанса и добротности антенны PCD.

(Введен дополнительно. Изм.A1:2012.)

3.1.6 отключение (mute): Отсутствие ответа в течение указанного времени ожидания, например, по истечению FWT.
________________
Отсюда и до конца подраздела 3.1 нумерация пунктов последовательно изменена из-за включения в текст стандарта дополнительного пункта 3.1.5 (Изм. А1:2012).

3.1.7 состояния PICC (PICC states): Различные состояния PICC во время инициализации и антиколлизии.

Примечание - См. ИСО/МЭК 14443-3:2011 (подраздел 6.3) для PICC типа А и ИСО/МЭК 14443-3:2011 (подраздел 7.4) для PICC типа В.

3.1.8 сценарий (scenario): Определенный типовой протокол и коммуникация, специфичная для приложения, которые используются вместе с методами испытаний, определенными в настоящем стандарте.

3.1.9 исходное состояние испытания; TIS (Test Initial State; TIS): Одно из состояний PICC до выполнения PICC определенной команды из набора команд.

3.1.10 метод испытания (test method): Метод проверки характеристик идентификационных карт с целью подтверждения их соответствия требованиям стандартов.

3.1.11 целевое состояние испытания; TTS (Test Target State; TTS): Одно из состояний PICC после выполнения PICC определенной команды из набора команд.

3.2 Обозначения и сокращения

(ххххх)b

Обозначение бита информации

'XY'

Шестнадцатеричная система счисления, равно XY по основанию 16

ATA(cid)

Ответ на ATTRIB, т.е. (mbli+cid CRC_B), с произвольным шестнадцатеричным значением mbli [см. ИСО/МЭК 14443-3:2011 (подраздел 7.11)]

ATTRIB(cid, fsdi)

Команда ATTRIB по умолчанию с PUPI из ATQB, CID=cid и значением кода максимального размера кадра=fsdi, т.е. ('1D' PUPI cid fsdi '01 00' CRC_B)

DUT

Испытуемое устройство (Device under test)

ESD

Электростатический разряд (Electrostatic Discharge)

l(c)(inf[,CID=cid]

[,NAD=nad] [,~CRC])

l-блок по ИСО/МЭК 14443-4 со сцеплением бит c{1,0}, числом блоков n{1,0} и информационным полем inf. По умолчанию не будет передаваться ни CID, ни NAD. Если определен CID=cid{0...15}, то он будет передан в качестве второго параметра. Если определен NAD=nad{0...'FF'}, то он будет передан как третий (или второй параметр, если CID не был передан). Если литерал '~CRC' не определен, то действительный CRC, соответствующий типу PICC, будет передан по умолчанию (т.е. CRC_A или CRC_B)

IUT

Тестируемая реализация (Implementation Under Test) (ИСО/МЭК 9646); в пределах области применения настоящего стандарта IUT представляет собой испытуемое PCD

LT

Нижний тестер (Lower Tester) (ИСО/МЭК 9646), эмуляционная часть PICC в оборудовании для испытаний PCD

m

Коэффициент модуляции (Modulation index)

Mute

Отсутствие ответа в течение указанного времени ожидания

N/A

Не применимо

PPS(cid, dri, dsi)

Запрос PPS по умолчанию с CID=cid, DRI=dri и DSI=dsi, т.е. ('D' + cid '11' dsi4 + dri CRC_A)

R(ACK [,CID=cid] [,~CRC])

Блок R(ACK) по ИСО/МЭК 14443-4 с числом блоков n. Определение дополнительных CID и ~CRC символов аналогично описанию блока l(c)n выше

R(NAK [,CID=cid] [,~CRC])

Блок R(NAK) по ИСО/МЭК 14443-4 с числом блоков n. Определение дополнительных CID и ~CRC символов аналогично описанию блока l(c) выше

RATS(cid, fsdi)

Команда по умолчанию RATS с CID=cid и значением FSDI=fsdi, т.е. ('E0' fsdi16+cid CRC_A)

READY(I)

Состояние READY на каскадном уровне I, l{1, 2, 3}; например, READY(2) - это каскадный уровень 2 для PICC

READY*(I)

Состояние READY* на каскадном уровне I, l{1, 2, 3}; например, READY*(2) - это каскадный уровень 2 для PICC

REQB(N)

Команда REQB с N, как определено в ИСО/МЭК 14443-3:2011 (пункт 7.7.4)

S(WTX)(WTXM
[,CID=cid][, ~CRC])

Блок S(WTX) по ИСО/МЭК 14443-4 с параметром WTXM. Определение дополнительных CID и ~CRC символов аналогично описанию блока l(c)n выше

S(DESELECT [,CID=cid]
[,~CRC])

Блок S(DESELECT) по ИСО/МЭК 14443-4. Определение дополнительных CID и ~CRC символов аналогично описанию блока l(c) выше

SAK(cascade)

Ответ на команду SELECT(I) с каскадным битом (бит 3), установленным на(1)b

SAK(complete)

Ответ на команду SELECT(I) с каскадным битом (бит 3), установленным на (0)b

SEL(c)

Код выборки уровня с (т.е. SEL(1)='93', SEL(2)='95', SEL(3)='97')

SELECT(I)

Команда SELECT на каскадном уровне I, т.е.

SELECT(1)=('93 70' UIDTX ВСС CRC_А)

SELECT(2)=('95 70' UIDTX ВСС CRC_A)

SELECT(3)=('97 70' UIDTX ВСС CRC_A)

SLOTMARKER(n)

Команда Slot-MARKER с номером слота n, т.е. (16(n-1)+5 CRC_B)

TB-PDU

Блок Данных Протокола Передачи (Transmission Block Protocol Data Unit), который состоит либо из l-блока, либо из R-блока, либо из S-блока

TEST_COMMAND1(1)

Тестовая команда по умолчанию, состоящая из одного несцепленного l-блока

Примечание - Эта команда зависит от согласованного значения максимального размера кадра PICC.

TEST_COMMAND1(n), n>1

Тестовая команда по умолчанию, состоящая из n сцепленных I-блоков (сцепление PCD)

Примечание - Эта команда зависит от согласованного значения максимального размера кадра PICC.

TEST_COMMAND1(n)

Поле INF k l-блока цепочки TEST_COMMAND1(n)

Примечание - Эта команда зависит от согласованного значения максимального размера кадра PICC.

TEST_COMMAND2(n), n>1

Тестовая команда по умолчанию, которая ожидает ответ, состоящий из n сцепленных I-блоков

Примечание - Эта команда зависит от согласованного значения максимального размера кадра PCD.

TEST_COMMAND3

Тестовая команда по умолчанию, состоящая из одного l-блока, которой необходимо время на выполнение больше, чем FWT

TEST_RESPONSE1(n)

Поле INF ответа на TEST_COMMAND1(n)

Примечание - Предполагается, что этот ответ всегда не сцеплен.

TEST_RESPONSE2(n)

Ответ на TEST_COMMAND2(n)

Примечание - Этот ответ зависит от согласованного максимального значения размера кадра PCD.

TEST_RESPONSE2(n)

Поле INF k l-блока цепочки TEST_RESPONSE2(n)

Примечание - Этот ответ зависит от согласованного максимального значения размера кадра PCD.

TEST_RESPONSE3

Ответный l-блок на TEST_COMMAND3

Примечание - Предполагается, что этот ответ всегда не сцеплен.

TM-PDU

Блок Данных Протокола Управления Тестированием (Test Management Protocol Data Unit) (ИСО/МЭК 9646-1, PDU)

START

Старт передачи PICC (Start of PICC transmission)

(Введено дополнительно. Изм.A2:2012.)

UIDTXI

Передаваемый UID из 32 бит данных на каскадном уровне I (см. таблицу 1)

UT

Верхний тестер (Upper Tester) (ИСО/МЭК 9646), мастер-компонента оборудования для испытаний PCD

UT_APDU

Блок Данных Прикладного Протокола Верхнего Тестера (Upper Tester Application Protocol Data Unit): пакет данных, которые должны быть отправлены PCD в LT через радиочастотный интерфейс

Напряжение постоянного тока. Измеренное на соединителе CON3 на эталонной PICC

(Введено дополнительно. Изм.A1:2012.)

WUPB(N)

Команда WUPB с N, как определено в ИСО/МЭК 14443-3:2011 (пункт 7.7.4)

Последовательность битов, состоящая из инвертированных битов последовательности битов X или другой последовательности битов, отличной от Х

Х[[а..b]]

Подпоследовательность битов из последовательности битов X, состоящая из битов между позициями а и b включительно. Если а>b, то последовательность пустая

Х[[n]]

Бит в позиции n из последовательности битов X. Первый бит - в позиции 1

Х[n]

Байт в позиции n из последовательности битов X. Первый байт - в позиции 1 (т.е. Х[n]=Х[[(n-1)8 + 1..n8]])



Таблица 1 - Преобразование из UID в UIDTX

Уровень каскада

Одинарный UID PICC

Двойной UID PICC

Тройной UID PICC

UIDTX

UID0 UID1 UID2 UID3

'88' UID0 UID1 UID2

'88' UID0 UID1 UID2

UIDTX

-

UID3 UID4 UID5 UID6

'88' UID3 UID4 UID5

UIDTX

-

-

UID6 UID7 UID8 UID9

4 Нормальные условия испытаний

4.1 Нормальные климатические условия


Испытания проводят при температуре окружающей среды (23±3)°С и относительной влажности воздуха от 40 до 60%, если не оговорены иные климатические условия.

4.2 Предварительное кондиционирование


В настоящем стандарте методы испытаний не требуют проведения предварительного кондиционирования PICC или PCD.

4.3 Допускаемые отклонения


Отклонения значений характеристик испытательного оборудования (например, линейных размеров) и параметров испытательных режимов (например, параметров настройки испытательного оборудования) от указанных в стандарте значений не должны быть более ±5%, если не оговорены другие допускаемые отклонения.

4.4 Паразитная индуктивность


Резисторы и конденсаторы должны иметь пренебрежимо малую индукцию.

4.5 Суммарная погрешность измерений


Суммарная погрешность измерений по каждой величине, определяемой при испытаниях, должна быть указана в протоколе испытаний.

Основная информация дана в руководстве ИСО/МЭК 98-3:2008.

5 Оборудование и схемы для испытаний по параметрам, установленным в ИСО/МЭК 14443-1 и ИСО/МЭК 14443-2


В настоящем разделе определены испытательное оборудование и испытательные схемы для проверки работы PICC или PCD на соответствие требованиям ИСО/МЭК 14443-1:2008 и ИСО/МЭК 14443-2:2010. Испытательное оборудование включает в себя:

- средства измерений (см. 5.1);

- калибровочную катушку (см. 5.2);

- испытательную установку PCD (см. 5.3);

- эталонную PICC (см. 5.4).

Они описаны в следующих разделах.

5.1 Минимальные требования к средствам измерений

5.1.1 Осциллограф

Цифровой импульсный осциллограф должен быть способен осуществлять дискретизацию с частотой не менее 500 млн отсчетов в секунду с разрешением не менее 8 бит при оптимальном масштабировании и иметь общую минимальную полосу пропускания 250 МГц. Осциллограф должен иметь возможность выводить дискретные данные в виде текстового файла для облегчения математических и других операций, таких как кадрирование дискретных данных с использованием внешних программ (см. приложения Е и F).

Примечание - Суммарная полоса пропускания представляет собой объединенную полосу пропускания осциллографа и измерительной установки.

5.2 Калибровочная катушка

В данном подразделе определены размер, толщина и характеристики калибровочных катушек 1 и 2.

Калибровочную катушку 1 используют только в испытательной установке PCD 1, а калибровочную катушку 2 - только в испытательной установке PCD 2.

5.2.1 Размер карты с калибровочной катушкой

Карта с калибровочной катушкой заключена в область высотой и шириной формата ID-1 в соответствии с ИСО/МЭК 7810:2003, которая содержит один виток катушки, концентричный с контуром карты (см. рисунок 1).

Рисунок 1 - Калибровочные катушки 1 и 2


Рисунок 1 - Калибровочные катушки 1 и 2

5.2.2 Толщина и материал карты с калибровочной катушкой

Толщина карты с калибровочной катушкой должна быть меньше толщины карты ID-1. Она должна быть сделана из подходящего изоляционного материала.

5.2.3 Характеристики катушки индуктивности

Калибровочная катушка на карте должна иметь один виток. Отклонения размеров витка должны быть в пределах ±2%.

Наружные размеры витка калибровочной катушки 1 должны составлять 72х42 мм с радиусом закругления углов контура 5 мм.

Примечание 1 - Площадь, в пределах которой сосредоточено электромагнитное поле, составляет приблизительно 3000 мм.

Примечание 2 - На частоте 13,56 МГц индуктивность катушки составляет приблизительно 250 нГн, а сопротивление - приблизительно 0,4 Ом.

Калибровочный коэффициент разомкнутой цепи для калибровочной катушки 1 составляет 0,318 В (среднеквадратичное значение) на ампер на метр (среднеквадратичное значение) [эквивалентно 900 мВ (двойная амплитуда) на ампер на метр (среднеквадратичное значение)].

Наружные размеры витка калибровочной катушки 2 должны составлять 47х24 мм с радиусом закругления углов контура 2 мм.

Примечание 3 - Площадь, в пределах которой сосредоточено электромагнитное поле, составляет приблизительно 1100 мм.

Примечание 4 - На частоте 13,56 МГц индуктивность катушки составляет приблизительно 140 нГн, а сопротивление - приблизительно 0,3 Ом.


Калибровочный коэффициент разомкнутой цепи для калибровочной катушки 2 составляет 0,118 В (среднеквадратичное значение) на ампер на метр (среднеквадратичное значение) [эквивалентно 333 мВ (двойная амплитуда) на ампер на метр (среднеквадратичное значение)].

Обмотка должна быть выполнена в виде печатной катушки на плате (РСВ) с медным покрытием толщиной 35 мкм. Ширина витка должна быть 500 мкм с допускаемым отклонением ±20%. Размер контактных площадок должен составлять 1,5х1,5 мм.

Пробник осциллографа должен иметь высокий импеданс и входную проводимость, эквивалентную параллельной емкости С<14 пФ и параллельному сопротивлению R>9 кОм при 13,56 МГц, чтобы измерять напряжение (разомкнутой цепи), наведенное в катушке индуктивности.

Примечание 5 - Провод заземления пробника осциллографа с высоким импедансом должен быть как можно короче, менее 20 мм, или коаксиально соединен.

5.3 Испытательная установка PCD

Определены две испытательные установки PCD:

- испытательная установка PCD 1 для PICC классов 1, 2 и 3 и для PICC, которые не требуют соответствия классу;

- испытательная установка PCD 2 для PICC классов 4, 5 и 6.

Каждая испытательная установка PCD должна состоять из круглой испытательной антенны PCD и двух параллельных катушек считывания: катушки считывания а и катушки считывания b. Принципиальная схема испытательной установки показана на рисунке 2. Катушки считывания должны быть соединены таким образом, чтобы сигнал одной катушки был в противофазе с сигналом второй катушки. Потенциометр Р1 на 10 Ом служит для точной настройки точки равновесия, когда катушки считывания не нагружены PICC или какой-либо цепью магнитного сопряжения. Емкостная нагрузка пробника, включая его паразитную емкость, должна быть менее 14 пФ.

Примечание 1 - Емкость соединений и пробника осциллографа должна быть сведена к минимуму для воспроизводимости результатов измерений.

Примечание 2 - Для того чтобы избежать непреднамеренного смещения в случае несимметричной настройки диапазона перестройки, потенциометр Р1 настроен только на 10 Ом. Если настройка не может быть компенсирована потенциометром Р1 в 10 Ом, то должна быть проверена общая симметрия установки.

Примечание 3 - Провод заземления пробника осциллографа с высоким импедансом должен быть как можно короче, менее 20 мм, или

коаксиально соединен.

Рисунок 2 - Принципиальная схема испытательной установки


Рисунок 2 - Принципиальная схема испытательной установки

5.3.1 Испытательная антенна PCD

Испытательная антенна PCD в испытательной установке PCD 1 должна иметь диаметр 150 мм.

Испытательная антенна PCD в испытательной установке PCD 2 должна иметь диаметр 100 мм.

Конструкция каждой испытательной антенны PCD должна соответствовать рисункам, приведенным в приложении А.

Согласование каждой испытательной антенны PCD достигается путем использования анализатора импеданса, или сетевого анализатора, или измерителя LCR. Если нет ни анализатора импеданса, ни сетевого анализатора, ни измерителя LCR, то согласование может быть выполнено с помощью процедур, изложенных в приложении В.

5.3.2 Катушки считывания

Размер катушки считывания 1 в испытательной установке PCD 1 должен быть равен 100х70 мм с радиусом закругления 10 мм.

Размер катушки считывания 2 в испытательной установке PCD 2 должен быть равен 60х47 мм с радиусом закругления 10 мм.

Конструкция каждой катушки считывания должна соответствовать рисункам, приведенным в приложении С.

5.3.3 Монтаж испытательного PCD

Катушки считывания 1 и испытательная антенна PCD 1 должны быть установлены параллельно, при этом катушка считывания и антенная катушка должны иметь общую ось и расстояние между активными проводниками должно составлять 37,5 мм, как показано на рисунке 3.

Катушки считывания 2 и испытательная антенна PCD 2 должны быть установлены параллельно, при этом катушка считывания и антенная катушка должны иметь общую ось и расстояние между активными проводниками должно составлять 23 мм, как показано на рисунке 3.

Отклонения размеров должны быть менее ±0,5 мм. Расстояния от катушки в DUT и от калибровочной катушки до катушки в испытательной антенне PCD должны быть одинаковыми.

Примечание - Эти расстояния выбирают так, чтобы создать сильное и однородное магнитное поле в положении DUT.


Рисунок 3 - Испытательная установка PCD 1 и испытательная установка PCD 2


Рисунок 3 - Испытательная установка PCD 1 и испытательная установка PCD 2


(Измененная редакция. Изм.A1:2012.)

5.4 Эталонные PICC


Эталонные PICC предназначены для проверки способности PCD:

- генерировать поле напряженностью не менее H и не более H;

- передавать мощность на PICC;

- передавать модулированный сигнал на PICC;

- получать модулированный сигнал нагрузки от PICC

в пределах своей рабочей области.

5.4.1 Размеры эталонной PICC

Эталонная PICC должна состоять из области высотой и шириной формата ID-1 по ИСО/МЭК 7810:2003, содержащей катушки индуктивности. Другая область, внешняя по отношению к первой, содержащая микросхему, эмулирующую требуемые функции PICC, должна быть присоединена таким образом, чтобы обеспечивать ее размещение в испытательных установках без создания помех испытаниям. Размеры должны быть такими, как показано на рисунке 4.

Рисунок 4 - Размеры эталонной PICC


Рисунок 4 - Размеры эталонной PICC

5.4.2 Конструкция эталонной PICC

Топология катушек эталонных PICC определена в приложении D. Если используют выводы между катушками и микросхемой, то они должны оказывать минимальное воздействие (если имеется) на радиочастотные измерения.

(Измененная редакция. Изм.A1:2012.)

Эталонная PICC должна иметь электрическую схему, как определено на рисунке 5, и значения параметров компонентов схемы, как определено в таблице 2.

Рисунок 5 - Электрическая схема эталонной PICC

Примечание - Положение d перемычки - J1 - RFU.
________________
RFU - зарезервировано для использования в будущем.


Рисунок 5 - Электрическая схема эталонной PICC


(Измененная редакция. Изм.A4:2012.)



Таблица 2 - Список компонентов эталонной PICC

Компонент

Значение

L1

См. приложение D

L2

См. приложение D

R1

1,8 кОм

R2

От 0 до 2 кОм

R3

220 Ом

R4

51 кОм

R5

51 Ом

R6

500 кОм

R7

110 кОм

R8

51 Ом

R9

1,5 кОм

С1

От 7 до 50 пФ

С2

От 3 до10 пФ

С3

27 пФ

С4

1 нФ

D1, D2, D3, D4

BAR43S или аналог

Dz

BZX84, 15 В, или аналог

Q1a, Q1b

BCV61А или аналог

Q2

BSS83 или аналог

CMF1, CMF2, CMF3, CMF4

АСМ3225-102-2Р или аналог

CON1, CON2, CON3, CON4

Радиочастотный соединитель

Необходимо использовать многовитковый потенциометр (число витков 10).

Коэффициент добротности должен быть выше 100 при 13,56 МГц.

Следует проявлять осторожность в отношении параметров Cj (емкость перехода), Ср (емкость монтажа), Ls (последовательная индуктивность) и Rs (последовательное сопротивление) эквивалентных диодов. Эти значения могут быть не представлены в листе с параметрами.


На CON1 должен быть подан сигнал нагрузочной модуляции. Нагрузочная модуляция может быть определена в испытательной установке PCD. Если генератор сигнала нагрузочной модуляции не используют, то он должен быть отключен или установлен на 0 В.

Нагрузку эталонной PICC можно настраивать с помощью напряжения на CON2 до тех пор, пока на CON3 не появится требуемое напряжение постоянного тока.

Напряжение постоянного тока эталонной PICC может быть измерено на CON3 с помощью вольтметра с высоким импедансом, при этом соединительные провода должны быть скручены или быть коаксиальными.

Параметры формы сигнала PCD подбирают на CON4, используя пробник осциллографа с высоким импедансом. Провод заземления пробника осциллографа с высоким импедансом должен быть как можно короче, менее 20 мм, или коаксиально соединен.

Положение а перемычки J2 используют для испытаний при скоростях передачи fc/128, fc/64, fc/32 и fc/16 бит/с.

Положение b перемычки J2 используют для испытаний при скоростях передачи fc/8, fc/4 и fc/2 бит/с.


(Введены дополнительно. Изм.A4:2012.)

5.4.3 Настройка резонансной частоты эталонной PICC

Резонансная частота эталонной PICC должна быть откалибрована с использованием следующей процедуры.

a) Установить перемычку J1 в положение а.

b) Подключить калибровочную катушку непосредственно к генератору сигналов, а соединитель CON3 эталонной PICC - к вольтметру с высоким импедансом. Подключить все остальные соединители к тем же устройствам, что и при испытании.

c) Расположить эталонную PICC на расстоянии d=10 мм над калибровочной катушкой таким образом, чтобы оси двух катушек (калибровочной катушки и главной катушки эталонной PICC) совпали (см. рисунок 6).

d) Возбудить калибровочную катушку с набором синусоидальных колебаний на нужной резонансной частоте.

e) Настроить емкости С1 и С2 эталонной PICC для достижения максимального постоянного тока на CON3.

f) Настроить уровень возбуждения генератора сигналов, чтобы получить на CON3 напряжение постоянного тока .

g) Повторять этапы е) и f), пока не будет достигнуто максимальное напряжение после этапа е).

(Измененная редакция. Изм.A1:2012.)


h ) Откалибровать испытательную установку PCD, чтобы создать рабочий режим с H на калибровочной катушке.

i) Поместить эталонную PICC в положение DUT в испытательной установке PCD. Переключить перемычку J1 в положение b и настроить R2 для получения напряжения постоянного тока . Измеряемого на соединителе COM3. Режим рабочего поля проверить, контролируя напряжение на калибровочной катушке, и при необходимости настроить.

(Измененная редакция. Изм.A1:2012.)

j) Повторить этапы от b) до g) с полученным значением R2.

Примечание - Вместо генератора сигналов может быть использован векторный анализатор цепей, если обеспечивается достаточная мощность для создания на CON3 при достижении максимальной резистивной части измеренного комплексного сопротивления калибровочной катушки.


(Измененная редакция. Изм.A1:2012.)

Рисунок 6 - Принципиальная схема настройки частоты эталонной PICC


Рисунок 6 - Принципиальная схема настройки частоты эталонной PICC


5.5 Испытательная установка EMD

5.5.1 Общее описание

Испытательная установка EMD состоит из:
________________
EMD - электромагнитная помеха (electromagnetic disturbance).


- генератора сигналов с низким уровнем фазового шума, который используют для синтезирования тестового образца EMD и тестовых команд PCD, посылаемых испытуемой PICC;

- испытательной установки PCD;

- устройства анализа амплитуды сигнала:

либо устройства, получающего сигнал (например, осциллограф), и соответствующего программного обеспечения для вычислений,

либо анализатора спектра (см. дополнительные условия в 5.5.2).

Устройство анализа амплитуды сигнала должно быть способно осуществлять измерения зависимости мощности от времени с фиксированной частотой, фиксированной полосой пропускания, расширенным динамическим диапазоном, низкой погрешностью и высокой временной разрешающей способностью.

Примечание - EMD-испытания PICC могут быть выполнены с использованием радиочастотного выходного сигнала серийного PCD. При EMD-испытании PICC можно использовать эмулятор PICC для генерирования тестового образца EMD.

5.5.2 Вычисление зависимости мощности от времени

Начальная точка зарегистрированного сигнала должна быть обработана посредством окна Барлетта по ровно двум циклам поднесущей. Преобразование Фурье этих отсчетов, обработанных методом окна, дает одно значение мощности. Путем перемещения окна Барлетта с шагом 1/fc от начала до конца зарегистрированного сигнала искомый результат зависимости мощности от времени будет окончательно вычислен.

Примечание - Полученная полоса пропускания в 3 дБ описанного выше окна составляет 531 кГц, а его шум равен полосе пропускания величиной 843 кГц.


Вычисление зависимости мощности от времени выполняют при fc+fs и fc-fs, используя масштабирование таким образом, чтобы чистый синусоидальный сигнал был получен по всей амплитуде. Пример вычисления приведен в приложении J.

В случае использования анализатора спектра он должен иметь как минимум аналогичную полосу пропускания для анализа. Он должен пройти предварительное испытание на шумовой порог по 5.5.3, при этом иметь некоторый дополнительный запас 10/fc по требованию к и не должен создавать выбросов выше предела EMD.

5.5.3 Предварительное испытание на шумовой порог

Для того чтобы обеспечить высокий динамический диапазон и достаточную чувствительность, должен быть измерен шумовой порог испытательной установки EMD и получены удовлетворительные результаты. Цель этого предварительного испытания - проверить, что испытательное оборудование, используемое для измерения уровня EMD, удовлетворяет требованию к минимальному уровню шума.

Испытание на шумовой порог считают удовлетворительным, если стандартное отклонение шума как минимум в три раза меньше, чем предел EMD при измерениях по 5.5.3.1.

Стандартное отклонение шума определяют путем вычисления среднеквадратичного значения результатов преобразования Фурье (см. 5.5.2).

Примечание - Шумовой порог может быть получен либо с помощью 14-битового дискретизатора при частоте дискретизации в 100 млн отсчетов в секунду, либо с помощью 8-битового цифрового осциллографа при частоте дискретизации в 1000 млн отсчетов в секунду.

5.5.3.1 Процедура испытания

Выполняют следующие этапы, чтобы оценить уровень шума как минимум при H и H.

a) Настроить эталонную PICC на 13,56 МГц.

b) Отрегулировать радиочастотную мощность генератора сигналов, передаваемую в испытательную в* антенну PCD для создания необходимой напряженности поля. Измеряемой с помощью калибровочной катушки.
________________
* Текст документа соответствует оригиналу. - .


c) Поместить эталонную PICC в положение DUT в испытательной установке PCD, переключить перемычку J1 в положение b и настроить R2 таким образом, чтобы получить напряжение постоянного тока 6 В на CON3. В качестве альтернативы перемычку J1 можно установить в положение с и подаваемое на CON2 напряжение настраивать до получения напряжения постоянного тока 6 В на CON3. В обоих случаях режим рабочего поля проверять, контролируя напряжение на калибровочной катушке, и при необходимости настроить.

d) Записывать сигнал с катушки считывания в течение периода времени не менее 250 мкс.

e) Вычислить стандартные отклонения шума на частотах fc+fs и fc-fs, используя подходящее программное обеспечение, как, например, программа из приложения J. Проверить, что полученные стандартные отклонения шума в три раза меньше .

5.5.3.2 Протокол испытаний

В протоколе испытаний должны быть зафиксированы стандартные отклонения шума на частотах fc+fs и fc-fs и должно быть указано, удовлетворяют ли результаты испытания предъявляемым требованиям.

(Введены дополнительно. Изм.A2:2012.)

6 Испытания по параметрам, установленным в ИСО/МЭК 14443-1

6.1 Испытания PCD

6.1.1 Переменное магнитное поле

6.1.1.1 Назначение

Данное испытание устанавливает, что PCD генерирует поле, не превышающее среднего значения, установленного в ИСО/МЭК 14443-1:2008, во всех возможных положениях PICC.

6.1.1.2 Процедура испытаний

а) Настроить эталонную PICC на 19 МГц, как описано в перечислениях а)-g) 5.4.3.

b) Откалибровать испытательную установку PCD для получения среднего значения поля, установленного в ИСО/МЭК 14443-1:2008 (пункт 4.4), на калибровочной катушке.

c) Поместить эталонную PICC в положение DUT в испытательной установке PCD. Переключить перемычку J1 в положение b и настроить R2 для получения напряжения постоянного тока 3 В. Измеряемого на соединителе CON3. Режим рабочего поля проверяют, контролируя напряжение на калибровочной катушке, и при необходимости настраивают.

ПРЕДУПРЕЖДЕНИЕ - Значение R2 должно быть в пределах от 55 до 65 В.

d) Установить эталонную PICC в любое возможное положение PICC. Напряжение постоянного тока на CON3 не должно превышать 3 В.

e) Если оно превышает, то использовать один тот же коэффициент пересчета, чтобы измерить максимальное и среднее напряжение постоянного тока и преобразовать в напряженность поля для проверки максимального и среднего значений поля, установленных в ИСО/МЭК 14443-1:2008 (пункт 4.4), за период 30 с.

6.1.1.3 Протокол испытаний

Протокол испытаний должен содержать значение напряжения постоянного тока. Измеренное на CON3.

6.2 Испытания PICC

6.2.1 Переменное магнитное поле

Цель данного испытания - проверить поведение PICC при воздействии переменного магнитного поля на частоте 13,56 МГц.

6.2.1.1 Оборудование

Для создания переменного магнитного поля используют испытательную установку PCD.

6.2.1.2 Процедура испытаний

Применяют следующую процедуру.

a) Отрегулировать радиочастотную мощность, подаваемую генератором сигналов на испытательную антенну PCD, до достижения напряженности поля среднего уровня по ИСО/МЭК 14443-1:2008 (пункт 4.4). Измеряемой при помощи калибровочной катушки.

(Измененная редакция. Изм.A1:2012.)

b) Поместить испытуемую PICC в положение DUT и при необходимости сразу перенастроить радиочастотный передатчик в испытательной антенне PCD на требуемую напряженность поля.

c) По истечении 5 мин убрать PICC из положения DUT как минимум на 5 с.

d) Отрегулировать радиочастотную мощность, подаваемую генератором сигналов на испытательную антенну PCD, до достижения напряженности поля максимального уровня по ИСО/МЭК 14443-1:2008 (пункт 4.4). Измеряемой при помощи калибровочной катушки.

(Измененная редакция. Изм.A1:2012.)

e) Поместить испытуемую PICC в положение DUT и при необходимости сразу перенастроить радиочастотный передатчик в испытательной антенне PCD на требуемую напряженность поля.

f) Применять в течение 5 мин. 100% амплитудную модуляцию (ASK) для этого поля со следующим циклом нагрузки:

- 5 с при 0 А/м (среднеквадратичное значение);

- 25 с при максимальном уровне, указанном в ИСО/МЭК 14443-1:2008 (пункт 4.4).

(Измененная редакция. Изм.A1:2012.)

g) Проверить, что PICC работает надлежащим образом.

6.2.1.3 Протокол испытаний

В протоколе испытаний должно быть указано, работает PICC надлежащим образом или нет.

6.2.2 Испытание на воздействие статического электричества

Цель данного испытания - проверить работу интегральной схемы карты при воздействии электростатического разряда (ESD) на испытуемый образец. Испытуемую PICC подвергают воздействию имитируемого электростатического разряда (ESD, модель человеческого тела) и затем проверяют ее основные функции (см. рисунок 7).

Рисунок 7 - Цепь испытания на воздействие ESD


Рисунок 7 - Цепь испытания на воздействие ESD

6.2.2.1 Оборудование

См. МЭК 61000-4-2:2008.

a) Основные технические характеристики генератора ESD:

- накопительная емкость - 150 пФ ±10%;

- разрядное сопротивление - 330 Ом ±10%;

- зарядное сопротивление - от 50 до 100 МОм;

- время нарастания - от 0,7 до 1 нc.

b) Предпочтительные характеристики оборудования:

- тип оборудования: настольный;

- метод разряда: прямое воздействие воздушного разряда на испытуемое оборудование;

- разрядные электроды генератора ESD: зонд диаметром 8 мм с круглым наконечником.

6.2.2.2 Процедура испытания

Подключить штырь заземления оборудования к электропроводной пластине, на которой размещена PICC.

Приложить разряд последовательно в нормальной полярности к каждой из 20 зон, показанных на рисунке 8. Далее повторить эту же процедуру с обратной полярностью. Необходимо выдерживать интервал не меньше 10 с для охлаждения между последовательными разрядными импульсами.

ВНИМАНИЕ - Если PICC содержит контакты, то их поверность должна быть обращена вверх, а зона, включающая в себя контакты, не должна подвергаться воздействию этого разряда.

По завершении испытания проверить, работает ли PICC надлежащим образом.

Рисунок 8 - Тестовые зоны PICC при испытании на воздействие ESD


Рисунок 8 - Тестовые зоны PICC при испытании на воздействие ESD

6.2.2.3 Протокол испытаний

В протоколе испытаний должно быть указано, работает ли PICC надлежащим образом или нет.

7 Испытания по параметрам, установленным в ИСО/МЭК 14443-2

7.1 Испытания PCD

7.1 Испытания PCD

Все испытания PCD, описанные ниже, должны быть проведены в его рабочей области, как определено изготовителем PCD, для каждого поддерживаемого класса.

Все испытания PCD по параметрам ИСО/МЭК 14443-2 должны быть выполнены с использованием эталонных PICC классов 1, 2 и 3 и других эталонных PICC (последнее необязательно), соответствующих дополнительным классам, поддерживаемым PCD, с соответствующими параметрами и испытательной установкой PCD, как определено в таблице 3.


Таблица 3 - Параметры классов

Класс

Эталонная PICC

, В

R2, Ом

R2, Ом

Испытательная установка PCD

1

1

6

870

1070

Испытательная установка PCD 1

2

2

4,5

1030

1260

Испытательная установка PCD 1

3

3

4,5

1080

1320

Испытательная установка PCD 1

4

4

4,5

990

1210

Испытательная установка PCD 2

5

5

4,5

960

1170

Испытательная установка PCD 2

6

6

4,5

700

900

Испытательная установка PCD 2

Примечание - Для может быть установлено значение 4,5 В для всех классов в следующих изданиях ИСО/МЭК 10373-6.


(Измененная редакция. Изм.A1:2012 и Поправка Cor.1:2013.)

7.1.1 Напряженность поля PCD

7.1.1.1 Цель

Данное испытание предназначено для измерения напряженности поля, создаваемого PCD в его рабочей области.

Примечание - В данном испытании учитывают нагрузку PICC на PCD.

Максимальное и минимальное значения напряженности поля, используемые с каждой эталонной PICC, указаны в ИСО/МЭК 14443-2:2010/Изм. А2:2012 (таблица 1).

(Введен дополнительно. Изм.A1:2012.)

7.1.1.2 Процедуры испытаний

Для H применяют следующую процедуру.

a) Настроить эталонную PICC на частоту 19 МГц, как описано в перечислениях а)-g) 5.4.3.

b) Откалибровать испытательную установку PCD, чтобы создать рабочий режим с H на калибровочной катушке.

c) Поместить эталонную PICC в положение DUT в испытательной установке PCD. Переключить перемычку J1 в положение b и настроить R2 таким образом, чтобы получить напряжение постоянного тока 3 В. Измеряемое на соединителе CON3. В качестве альтернативы перемычку J1 установить в положение с, и подаваемое на CON2 напряжение настраивать до получения напряжения постоянного тока 3 В на соединителе CON3. В обоих случаях режим рабочего поля проверять, контролируя напряжение на калибровочной катушке, и при необходимости настроить.

ПРЕДУПРЕЖДЕНИЕ - Значение R2 должно быть в пределах от 75 до 85 Ом. Проверить этот диапазон хотя бы один раз перед использованием альтернативного метода.

d) Расположить эталонную PICC в пределах рабочей области испытуемого PCD. Напряжение постоянного тока на CON3 не должно превышать 3 В.

Для H применяют следующую процедуру.

a) Настроить эталонную PICC на частоту 13,56 МГц, как описано в 5.4.3.

b) Поместить эталонную PICC в положение DUT в испытательной установке PCD, создающей рабочий режим с H на калибровочной катушке. Проверить, что перемычка J1 установлена в положение b и напряжение постоянного тока , как определено в таблице 3. Измеряют на соединителе CON3. В качестве альтернативы перемычка J1 может быть установлена в положение с, и напряжение на CON2 настраивают для получения напряжения постоянного тока согласно таблице 3 на соединителе CON3. В обоих случаях режим рабочего поля должен быть проверен путем контроля напряжения на калибровочной катушке и при необходимости настроен.

ПРЕДУПРЕЖДЕНИЕ - Значение R2 должно быть в пределах от R2 до R2, как определено в таблице 3. Проверить этот диапазон хотя бы один раз перед использованием альтернативного метода.

с) Расположить эталонную PICC в пределах рабочей области испытуемого PCD. Напряжение постоянного тока на CON3 должно превышать , как определено в таблице 3.

7.1.1.3 Протокол испытаний

Протокол испытаний должен подтверждать рабочую область, в которой напряжение постоянного тока. Измеряемое на CON3 для R2, или напряженность поля, настраиваемая на H и H с помощью резистора переменной нагрузки, удовлетворяет требованиям, определенным в перечислениях d) и с) двух процедур по 7.1.1.2.

7.1.2 Исключен.

7.1.3 Исключен.

(Измененная редакция. Изм.A1:2012.)

7.1.4 Коэффициент модуляции и форма колебаний сигнала

7.1.4.1 Цель

Цель данного испытания - определить коэффициент модуляции поля PCD, а также время нарастания и время спада и значения выбросов, как определено в ИСО/МЭК 14443-2, для всех поддерживаемых скоростей передачи от PCD к PICC.

(Измененная редакция. Изм.A4:2012.)

7.1.4.2 Процедура испытаний

a) Установить калибровочную катушку в произвольном положении в установленной рабочей области и вывести данные напряжения катушки индуктивности на подходящий осциллограф. Определить коэффициент модуляции и характеристики формы колебаний сигнала, используя инструментарий для анализа, определенный в приложении Е.

b) Настроить эталонную PICC на частоту 16,5 МГц, как описано в перечислениях а)-g) 5.4.3, и переключить перемычку J1 в положение с.

c) Поместить эталонную PICC в определенном положении в рабочей области PCD.

d) Приложить и настроить напряжение постоянного тока на CON2 таким образом, чтобы получить напряжение постоянного тока на соединителе CON3 , как определено в таблице 3.

(Измененная редакция. Изм.A1:2012.)



Примечание 1 - Если напряжение постоянного тока 6 В не может быть достигнуто при выбранном положении, то для испытания используют максимально достижимое напряжение.

e) Если немодулированное напряжение на CON4. Измеренное с помощью подходящего осциллографа (требования по 5.1.1), ниже 1 В (двойная амплитуда), то следует использовать другую воспринимающую катушку для определения характеристик формы колебания сигнала.

Примечание 2 - Другая воспринимающая катушка должна иметь форму восьмерки с радиусом 15 мм и быть расположена дальше всего от эталонной PICC для минимизации взаимодействия и как можно ближе к антенне PCD для минимизации наведенного напряжения.

f) Определить коэффициент модуляции и характеристики формы колебаний сигнала по напряжению на CON4 или на противоположной воспринимающей катушке, используя инструментарий для анализа, определенный в приложении Е.

g) Повторить этапы с с) по f) для различных положений в пределах рабочей области и для всех поддерживаемых скоростей передачи от PCD к PICC.

(Измененная редакция. Изм.A4:2012.)


Примечание 3 - Выбранное положение калибровочной катушки в пределах рабочей области не влияет на результат.

Примечание 4 - Нагрузка эталонной PICC не означает наихудший эффект нагрузки PICC. Самый высокий эффект нагрузки может быть достигнут с помощью резонансных частот, близких к несущим частотам (т.е. 15 или 13,56 МГц).

7.1.4.3 Протокол испытаний

Протокол испытаний должен содержать измеренное значение коэффициента модуляции поля PCD, время нарастания и время спада, а также значения выбросов в пределах рабочей области в нагруженном и ненагруженном состояниях.

7.1.5 Прием сигнала нагрузочной модуляции

7.1.5.1 Цель

Цель данного испытания - проверить, что PCD безошибочно регистрирует нагрузочную модуляцию PICC, соответствующую требованиям ИСО/МЭК 14443-2, для скоростей передачи fc/128, fc/8, fc/4 и fc/2 от PICC к PCD, если такие поддерживаются.

(Измененная редакция. Изм.A4:2012.)

7.1.5.2 Процедура испытаний

Эталонная PICC и процедура ее калибровки позволяют определить чувствительность PCD к нагрузочной модуляции. Эталонная PICC не эмулирует эффект нагрузки всех типов PICC.

a) Настроить эталонную PICC на частоту 13,56 МГц, как описано в 5.4.3, и переключить перемычку J1 в положение с.

b) Поместить эталонную PICC в определенном положении в рабочей области PCD.

c) Приложить и настроить напряжение постоянного тока на CON2 таким образом, чтобы получить напряжение постоянного тока на соединителе CON3 согласно таблице 3.

(Измененная редакция. Изм.A1:2012.)

d) Увеличивать амплитуду модулированного сигнала на CON1 для получения откликов до тех пор, пока PCD не обнаружит не менее 10 последовательных откликов.

e) Поместить эталонную PICC в положение DUT в испытательной установке PCD.

f) Настроить испытательную установку PCD для создания напряженности поля Н, которое даст такое же напряжение на CON3, и зафиксировать соответствующую напряженность поля путем считывания напряжения на калибровочной катушке.

g) Измерить амплитуду нагрузочной модуляции эталонной PICC согласно описанию в 7.2.1 и сравнить ее с нормальным предельным значением, соответствующим зафиксированному значению напряженности поля. Этот измеренный уровень определяет критерий чувствительности PCD для сравнения с нормальным предельным значением и выполнения этих контрольных измерений.

h) Повторить этапы от b) до g) для различных положений в пределах рабочей области для скоростей передачи fc/128, fc/8, fc/4 и fc/2 от PICC к PCD, если такие поддерживаются.

(Измененная редакция. Изм.A4:2012.)

i) Повторить этапы с а) по h) с резонансной частотой эталонной PICC 15 МГц.

Любое положение, в котором чувствительность PCD больше нормального предельного значения, считают не соответствующим рабочей области.

Примечание 1 - Эффективность испытания может быть расширена при использовании дополнительных резонансных частот ниже 13,56 МГц, например, 12 и 10 МГц.

Примечание 2 - Чувствительность PCD должна быть ниже нормального предельного значения для обеспечения хорошего приема сигнала нагрузочной модуляции PICC.

Примечание 3 - В данном испытании не проверяют, что прием PCD не зависит от фазы нагрузочной модуляции PICC. Следовательно, данное испытание не гарантирует безошибочный прием никакой PICC, соответствующей требованиям ИСО/МЭК 14443-2:2010.

7.1.5.3 Протокол испытаний

Протокол испытаний должен содержать данные о чувствительности PCD к нагрузочной модуляции в положениях, подвергаемых испытанию.

7.1.6 Испытание на устойчивость PCD к EMD

7.1.6.1 Цель

Цель данного испытания - определить, является ли PCD нечувствительным к амплитуде нагрузочной модуляции ниже .

7.1.6.2 Процедура испытаний

a) Настроить эталонную PICC на частоту 13,56 МГц, как описано в 5.4.3, и переключить перемычку J1 в положение с.

b) Поместить эталонную PICC в определенном положении в рабочей области PCD.

c) Приложить и настроить напряжение постоянного тока на CON2 таким образом, чтобы получить напряжение постоянного тока 3 или 6 В на соединителе CON3, если поддерживается "Класс 1" в этом положении.

d) Отправить тестовую последовательность, как показано на рисунке Amd.2.1. Тестовая последовательность представляет собой действительный стандартный кадр, включающий в себя один одиночный байт (01011101)b. Амплитуда модулированного сигнала исходной нагрузки тестовой последовательности должна быть достаточно низкой, чтобы PCD обнаружило ответ PICC, посланный на этапе е).

e) Непосредственно после этой тестовой последовательности, без интервала, послать соответствующий ответ PICC на команду PCD с амплитудой модулирующего сигнала нагрузки . Измеренной в соответствии с 7.2.1, уровнем выше, например, в два раза, чем минимальное значение применяемой напряженности поля Н.

f) Увеличивать путем настройки напряжения на CON1 до тех пор, пока PCD не обнаружит ответ корректно. Это может быть определено путем контроля следующей команды PCD, идущей за ответом PICC (см. рисунок Amd.2.1).

g) Поместить эталонную PICC в положение DUT в испытательной установке PCD.

h) Настроить испытательную установку PCD для создания напряженности поля Н, позволяющей получить то же самое напряжение на CON3, и записать соответствующую напряженность поля путем считывания напряжения на калибровочной катушке.

i) Установить текущее значение на эталонной PICC путем применения зависимости мощности от времени согласно описанию в 5.5.2.

j) Сравнить измеренное значение с .

Повторить этапы с b) по j) для других заданных положений в пределах рабочей области.

Рисунок Amd.2.1 - Испытание на устойчивость PCD (общее для типа А и типа В)


Рисунок Amd.2.1 - Испытание на устойчивость PCD (общее для типа А и типа В)

7.1.6.3 Протокол испытаний

В протоколе испытаний указывают, было ли PCD нечувствительно к амплитуде модулированного сигнала ниже .

7.1.7 Испытание на восстановление PCD после воздействия EMD

7.1.7.1 Цель

Цель данного испытания - определить, нарушается ли настройка PCD тестовой последовательностью, посланной за время до ответа PICC.

7.1.7.2 Процедура испытания

a) Настроить эталонную PICC на 13,56 МГц (см. 5.4.3).

b) Откалибровать испытательную установку PCD, чтобы создать рабочий режим с H на калибровочной катушке.

c) Поместить эталонную PICC в положение DUT в испытательной установке PCD. Переключить перемычку J1 в положение с и настроить напряжение постоянного тока на CON2 таким образом, чтобы получить напряжение постоянного тока 6 В на соединителе CON3. Режим рабочего поля проверять, контролируя напряжение на калибровочной катушке, и настроить напряжение при необходимости.

d) Найти соответствующее управляющее напряжение на CON1, чтобы создать амплитуду нагрузочной модуляции . Измеряемую по 7.2.1, выше, чем предел для H, определяемый по ИСО/МЭК 14443-2.

e) Поместить эталонную PICC в положение в пределах рабочей области PCD при напряжении постоянного тока на CON3 6 В.

f) Послать в последовательности, показанной на рисунке Amd.2.2, используя время , которое соответствует минимуму FDT/TR0:

Примечание 1 - Время низкого уровня EMD является функцией FDT/TR0 в соответствии с ИСО/МЭК 14443-3:2011/Изм.А1:2011.


- тестовую последовательность, которая запускает передачу двух бит данных b1=(0)b и (следом за b1) b2=(1)b допустимым способом на PCD, но прерывается сразу после того, как послан второй бит, как показано на рисунке Amd.2.3 для типа А и рисунке Amd.2.4 для типа В;

Примечание 2 - В зависимости от FDT/TR0 тестовая последовательность может начаться до завершения команды PCD.


- период без нагрузочной модуляции продолжительностью ;

- соответствующий ответ на команду PCD.

Рисунок Amd.2.2 - Последовательность испытания на восстановление после воздействия EMD (общая для типа А и типа В)


Рисунок Amd.2.2 - Последовательность испытания на восстановление после воздействия EMD (общая для типа А и типа В)

Рисунок Amd.2.3 - Тестовая последовательность для испытания на восстановление после воздействия EMD (тип А)


Рисунок Amd.2.3 - Тестовая последовательность для испытания на восстановление после воздействия EMD (тип А)

Рисунок Amd.2.4 - Тестовая последовательность для испытания на восстановление после воздействия EMD (тип В)


Рисунок Amd.2.4 - Тестовая последовательность для испытания на восстановление после воздействия EMD (тип В)

g) Проверить, работает ли PCD в том же порядке, как если бы тестовой последовательности не было. Это можно определить путем проверки следующей команды PCD, идущей за ответом PICC (см. рисунок Amd.2.2).

h) Повторить этапы с f) по g) 10 раз;

i) Повторить этапы с f) по h) путем замены минимума FDT/TR0 на максимум FDT/TR0.

7.1.7.3 Протокол испытаний

В протоколе испытаний должно быть указано, не были ли созданы помехи в PCD тестовой последовательностью, посланной за время перед ответом PICC (или была ли обеспечена возможность восстановления после тестовой последовательности).

(Введены дополнительно. Изм.A2:2012.)