ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-6-2015
Группа Э49
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Карты идентификационные
МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ
Часть 6
Карты близкого действия
Identification cards. Test methods. Part 6. Proximity cards
ОКС 35.240.15
ОКСТУ 4084
Дата введения 2016-07-01
Предисловие
1 ПОДГОТОВЛЕН Федеральным государственным унитарным предприятием "Всероссийский научно-исследовательский институт стандартизации и сертификации в машиностроении" (ВНИИНМАШ) и Техническим комитетом по стандартизации ТК 22 "Информационные технологии" на основе собственного аутентичного перевода на русский язык стандарта, указанного в пункте 4
2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 22 "Информационные технологии"
3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 22 июня 2015 г. N 773-ст
4 Настоящий стандарт идентичен международному стандарту ИСО/МЭК 10373-6:2011* "Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 6. Карты близкого действия" (ISO/IEC 10373-6:2011 Identification cards - Test methods - Part 6: Proximity cards), включая изменения A1:2012, A2:2012, A3:2012, A4:2012 и поправку Cor.1:2013.
________________
* Доступ к международным и зарубежным документам, упомянутым здесь и далее по тексту, можно получить, перейдя по ссылке на сайт . - .
Изменения и техническая поправка к указанному международному стандарту, принятые после его официальной публикации, внесены в текст настоящего стандарта и выделены двойной вертикальной линией, расположенной на полях напротив соответствующего текста, а обозначение и год принятия изменения (технической поправки) приведены в скобках после соответствующего текста.
При применении настоящего стандарта рекомендуется использовать вместо ссылочных международных стандартов соответствующие им национальные стандарты Российской Федерации, сведения о которых приведены в дополнительном приложении ДА
Некоторые положения международного стандарта, указанного в пункте 4, могут являться объектом патентных прав. Международная организация по стандартизации (ИСО) и Международная электротехническая комиссия (МЭК) не несут ответственности за идентификацию подобных патентных прав
5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
Правила применения настоящего стандарта установлены в ГОСТ 1.0-2012* (раздел 8). Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе "Национальные стандарты", а официальный текст изменений и поправок - в ежемесячном информационном указателе "Национальные стандарты". В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя "Национальные стандарты". Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.gost.ru)
________________
* Вероятно, ошибка оригинала. Следует читать: ГОСТ Р 1.0-2012. - .
1 Область применения
1 Область применения
Стандарты серии ИСО/МЭК 10373 устанавливают методы испытаний для определения характеристик идентификационных карт, соответствующих определению, приведенному в ИСО/МЭК 7810 (далее - карты). В каждом методе испытания имеется ссылка на один или несколько базовых стандартов, которыми могут быть ИСО/МЭК 7810 либо один или несколько дополнительных стандартов, устанавливающих требования к технологиям хранения информации, применяемым в картах.
Примечание 1 - Критерии оценки результатов испытаний не включены в настоящий стандарт; они установлены в базовых стандартах.
Примечание 2 - Испытания, определенные в настоящем стандарте, следует проводить независимо одно от другого. Любую конкретную карту близкого действия или терминальное оборудование близкого действия не следует подвергать последовательно всем испытаниям.
Настоящий стандарт устанавливает методы испытаний для карт и объектов близкого действия и соответствующего терминального оборудования, требования к которым установлены в ИСО/МЭК 14443-1:2008, ИСО/МЭК 14443-2:2010, ИСО/МЭК 14443-3:2011 и ИСО/МЭК 14443-4:2008. ИСО/МЭК 10373-1 определяет методы испытаний, являющиеся общими для одной или нескольких технологий хранения информации в картах на интегральных схемах, а остальные стандарты серии ИСО/МЭК 10373 устанавливают другие методы испытаний, предназначенные для других технологий.
2 Нормативные ссылки
В настоящем стандарте использованы ссылки на следующие международные стандарты*. Для датированных ссылок следует использовать только указанное издание, для недатированных ссылок следует использовать последнее издание указанного документа, включая все поправки:
_______________
* Таблицу соответствия национальных стандартов международным см. по ссылке. - .
ИСО/МЭК 7810:2003 Карты идентификационные. Физические характеристики (ISO/IEC 7810:2003 Identification cards - Physical characteristics)
ИСО/МЭК 14443-1:2008 Карты идентификационные. Карты на интегральных схемах бесконтактные. Карты близкого действия. Часть 1. Физические характеристики (ISO/IEC 14443-1:2008 Identification cards - Contactless integrated circuit cards - Proximity cards - Part 1: Physical characteristics)
ИСО/МЭК 14443-2:2010 Карты идентификационные. Карты на интегральных схемах бесконтактные. Карты близкого действия. Часть 2. Радиочастотный энергетический и сигнальный интерфейс (ISO/IEC 14443-2:2010 Identification cards - Contactless integrated circuit cards - Proximity cards - Part 2: Radio frequency power and signal interface)
ИСО/МЭК 14443-3:2011 Карты идентификационные. Карты на интегральных схемах бесконтактные. Карты близкого действия. Часть 3. Инициализация и антиколлизия (ISO/IEC 14443-3:2011 Identification cards - Contactless integrated circuit cards - Proximity cards - Part 3: Initialization and anticollision)
ИСО/МЭК 14443-4:2008 Карты идентификационные. Карты на интегральных схемах бесконтактные. Карты близкого действия. Часть 4. Протокол передачи (ISO/IEC 14443-4:2008 Identification cards - Contactless integrated circuit cards - Proximity cards - Part 4: Transmission protocol)
МЭК 61000-4-2:2008 Электромагнитная совместимость. Часть 4-2. Методики испытаний и измерений. Испытание на невосприимчивость к электростатическому разряду [IEC 61000-4-2:2008 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-2: Testing and measurement techniques - Electrostatic discharge immunity test]
3 Термины, определения, обозначения и сокращения
В настоящем стандарте применены термины, определения, сокращения и обозначения по ИСО/МЭК 14443-1:2008, ИСО/МЭК 14443-2:2010, ИСО/МЭК 14443-3:2011, ИСО/МЭК 14443-4:2008, а также следующие термины с соответствующими определениями.
Примечание - Элементы в жирных скобках [ ] являются дополнительными определениями.
3.1 Термины и определения
3.1.1 базовый стандарт (base standard): Стандарт, для проверки соответствия требованиям которого используют данный метод испытания.
3.1.2 СascadeLevels: Число каскадных уровней PICС.
3.1.3 PICC "Класс 1" ("Class 1" PICC): PICC, у которой антенна расположена согласно ИСО/МЭК 14443-1:2008 и которая выдерживает испытание на максимальный эффект нагрузки по 7.2.5 настоящего стандарта в условиях, соответствующих PICC "Класс 1".
3.1.4 набор команд (command set): Набор, описывающий команды, посылаемые PICC во время инициализации и антиколлизии.
Примечание - См. ИСО/МЭК 14443-3:2011 (подраздел 6.4) для PICC типа А и ИСО/МЭК 14443-3:2011 (подраздел 7.5) для PICC типа В.
3.1.5 эффект нагрузки (loading effect): Изменение тока антенны PCD, вызванное присутствием PICC в поле, в результате взаимного изменения резонанса и добротности антенны PCD. |
3.1.6 отключение (mute): Отсутствие ответа в течение указанного времени ожидания, например, по истечению FWT.
________________
Отсюда и до конца подраздела 3.1 нумерация пунктов последовательно изменена из-за включения в текст стандарта дополнительного пункта 3.1.5 (Изм. А1:2012).
3.1.7 состояния PICC (PICC states): Различные состояния PICC во время инициализации и антиколлизии.
Примечание - См. ИСО/МЭК 14443-3:2011 (подраздел 6.3) для PICC типа А и ИСО/МЭК 14443-3:2011 (подраздел 7.4) для PICC типа В.
3.1.8 сценарий (scenario): Определенный типовой протокол и коммуникация, специфичная для приложения, которые используются вместе с методами испытаний, определенными в настоящем стандарте.
3.1.9 исходное состояние испытания; TIS (Test Initial State; TIS): Одно из состояний PICC до выполнения PICC определенной команды из набора команд.
3.1.10 метод испытания (test method): Метод проверки характеристик идентификационных карт с целью подтверждения их соответствия требованиям стандартов.
3.1.11 целевое состояние испытания; TTS (Test Target State; TTS): Одно из состояний PICC после выполнения PICC определенной команды из набора команд.
3.2 Обозначения и сокращения
(ххххх)b | Обозначение бита информации | |
'XY' | Шестнадцатеричная система счисления, равно XY по основанию 16 | |
ATA(cid) | Ответ на ATTRIB, т.е. (mbli+cid CRC_B), с произвольным шестнадцатеричным значением mbli [см. ИСО/МЭК 14443-3:2011 (подраздел 7.11)] | |
ATTRIB(cid, fsdi) | Команда ATTRIB по умолчанию с PUPI из ATQB, CID=cid и значением кода максимального размера кадра=fsdi, т.е. ('1D' PUPI cid fsdi '01 00' CRC_B) | |
DUT | Испытуемое устройство (Device under test) | |
ESD | Электростатический разряд (Electrostatic Discharge) | |
l(c)(inf[,CID=cid] | l-блок по ИСО/МЭК 14443-4 со сцеплением бит c{1,0}, числом блоков n{1,0} и информационным полем inf. По умолчанию не будет передаваться ни CID, ни NAD. Если определен CID=cid{0...15}, то он будет передан в качестве второго параметра. Если определен NAD=nad{0...'FF'}, то он будет передан как третий (или второй параметр, если CID не был передан). Если литерал '~CRC' не определен, то действительный CRC, соответствующий типу PICC, будет передан по умолчанию (т.е. CRC_A или CRC_B) | |
IUT | Тестируемая реализация (Implementation Under Test) (ИСО/МЭК 9646); в пределах области применения настоящего стандарта IUT представляет собой испытуемое PCD | |
LT | Нижний тестер (Lower Tester) (ИСО/МЭК 9646), эмуляционная часть PICC в оборудовании для испытаний PCD | |
m | Коэффициент модуляции (Modulation index) | |
Mute | Отсутствие ответа в течение указанного времени ожидания | |
N/A | Не применимо | |
PPS(cid, dri, dsi) | Запрос PPS по умолчанию с CID=cid, DRI=dri и DSI=dsi, т.е. ('D' + cid '11' dsi4 + dri CRC_A) | |
R(ACK [,CID=cid] [,~CRC]) | Блок R(ACK) по ИСО/МЭК 14443-4 с числом блоков n. Определение дополнительных CID и ~CRC символов аналогично описанию блока l(c)n выше | |
R(NAK [,CID=cid] [,~CRC]) | Блок R(NAK) по ИСО/МЭК 14443-4 с числом блоков n. Определение дополнительных CID и ~CRC символов аналогично описанию блока l(c) выше | |
RATS(cid, fsdi) | Команда по умолчанию RATS с CID=cid и значением FSDI=fsdi, т.е. ('E0' fsdi16+cid CRC_A) | |
READY(I) | Состояние READY на каскадном уровне I, l{1, 2, 3}; например, READY(2) - это каскадный уровень 2 для PICC | |
READY*(I) | Состояние READY* на каскадном уровне I, l{1, 2, 3}; например, READY*(2) - это каскадный уровень 2 для PICC | |
REQB(N) | Команда REQB с N, как определено в ИСО/МЭК 14443-3:2011 (пункт 7.7.4) | |
S(WTX)(WTXM | Блок S(WTX) по ИСО/МЭК 14443-4 с параметром WTXM. Определение дополнительных CID и ~CRC символов аналогично описанию блока l(c)n выше | |
S(DESELECT [,CID=cid] | Блок S(DESELECT) по ИСО/МЭК 14443-4. Определение дополнительных CID и ~CRC символов аналогично описанию блока l(c) выше | |
SAK(cascade) | Ответ на команду SELECT(I) с каскадным битом (бит 3), установленным на(1)b | |
SAK(complete) | Ответ на команду SELECT(I) с каскадным битом (бит 3), установленным на (0)b | |
SEL(c) | Код выборки уровня с (т.е. SEL(1)='93', SEL(2)='95', SEL(3)='97') | |
SELECT(I) | Команда SELECT на каскадном уровне I, т.е. | |
SLOTMARKER(n) | Команда Slot-MARKER с номером слота n, т.е. (16(n-1)+5 CRC_B) | |
TB-PDU | Блок Данных Протокола Передачи (Transmission Block Protocol Data Unit), который состоит либо из l-блока, либо из R-блока, либо из S-блока | |
TEST_COMMAND1(1) | Тестовая команда по умолчанию, состоящая из одного несцепленного l-блока | |
TEST_COMMAND1(n), n>1 | Тестовая команда по умолчанию, состоящая из n сцепленных I-блоков (сцепление PCD) | |
TEST_COMMAND1(n) | Поле INF k l-блока цепочки TEST_COMMAND1(n) | |
TEST_COMMAND2(n), n>1 | Тестовая команда по умолчанию, которая ожидает ответ, состоящий из n сцепленных I-блоков | |
TEST_COMMAND3 | Тестовая команда по умолчанию, состоящая из одного l-блока, которой необходимо время на выполнение больше, чем FWT | |
TEST_RESPONSE1(n) | Поле INF ответа на TEST_COMMAND1(n) | |
TEST_RESPONSE2(n) | Ответ на TEST_COMMAND2(n) | |
TEST_RESPONSE2(n) | Поле INF k l-блока цепочки TEST_RESPONSE2(n) | |
TEST_RESPONSE3 | Ответный l-блок на TEST_COMMAND3 | |
TM-PDU | Блок Данных Протокола Управления Тестированием (Test Management Protocol Data Unit) (ИСО/МЭК 9646-1, PDU) | |
START | Старт передачи PICC (Start of PICC transmission) | |
UIDTXI | Передаваемый UID из 32 бит данных на каскадном уровне I (см. таблицу 1) | |
UT | Верхний тестер (Upper Tester) (ИСО/МЭК 9646), мастер-компонента оборудования для испытаний PCD | |
UT_APDU | Блок Данных Прикладного Протокола Верхнего Тестера (Upper Tester Application Protocol Data Unit): пакет данных, которые должны быть отправлены PCD в LT через радиочастотный интерфейс | |
Напряжение постоянного тока. Измеренное на соединителе CON3 на эталонной PICC | ||
WUPB(N) | Команда WUPB с N, как определено в ИСО/МЭК 14443-3:2011 (пункт 7.7.4) | |
~Х | Последовательность битов, состоящая из инвертированных битов последовательности битов X или другой последовательности битов, отличной от Х | |
Х[[а..b]] | Подпоследовательность битов из последовательности битов X, состоящая из битов между позициями а и b включительно. Если а>b, то последовательность пустая | |
Х[[n]] | Бит в позиции n из последовательности битов X. Первый бит - в позиции 1 | |
Х[n] | Байт в позиции n из последовательности битов X. Первый байт - в позиции 1 (т.е. Х[n]=Х[[(n-1)8 + 1..n8]]) |
Таблица 1 - Преобразование из UID в UIDTX
Уровень каскада | Одинарный UID PICC | Двойной UID PICC | Тройной UID PICC |
UIDTX | UID0 UID1 UID2 UID3 | '88' UID0 UID1 UID2 | '88' UID0 UID1 UID2 |
UIDTX | - | UID3 UID4 UID5 UID6 | '88' UID3 UID4 UID5 |
UIDTX | - | - | UID6 UID7 UID8 UID9 |
4 Нормальные условия испытаний
4.1 Нормальные климатические условия
Испытания проводят при температуре окружающей среды (23±3)°С и относительной влажности воздуха от 40 до 60%, если не оговорены иные климатические условия.
4.2 Предварительное кондиционирование
В настоящем стандарте методы испытаний не требуют проведения предварительного кондиционирования PICC или PCD.
4.3 Допускаемые отклонения
Отклонения значений характеристик испытательного оборудования (например, линейных размеров) и параметров испытательных режимов (например, параметров настройки испытательного оборудования) от указанных в стандарте значений не должны быть более ±5%, если не оговорены другие допускаемые отклонения.
4.4 Паразитная индуктивность
Резисторы и конденсаторы должны иметь пренебрежимо малую индукцию.
4.5 Суммарная погрешность измерений
Суммарная погрешность измерений по каждой величине, определяемой при испытаниях, должна быть указана в протоколе испытаний.
Основная информация дана в руководстве ИСО/МЭК 98-3:2008.
5 Оборудование и схемы для испытаний по параметрам, установленным в ИСО/МЭК 14443-1 и ИСО/МЭК 14443-2
В настоящем разделе определены испытательное оборудование и испытательные схемы для проверки работы PICC или PCD на соответствие требованиям ИСО/МЭК 14443-1:2008 и ИСО/МЭК 14443-2:2010. Испытательное оборудование включает в себя:
- средства измерений (см. 5.1);
- калибровочную катушку (см. 5.2);
- испытательную установку PCD (см. 5.3);
- эталонную PICC (см. 5.4).
Они описаны в следующих разделах.
5.1 Минимальные требования к средствам измерений
5.1.1 Осциллограф
Цифровой импульсный осциллограф должен быть способен осуществлять дискретизацию с частотой не менее 500 млн отсчетов в секунду с разрешением не менее 8 бит при оптимальном масштабировании и иметь общую минимальную полосу пропускания 250 МГц. Осциллограф должен иметь возможность выводить дискретные данные в виде текстового файла для облегчения математических и других операций, таких как кадрирование дискретных данных с использованием внешних программ (см. приложения Е и F).
Примечание - Суммарная полоса пропускания представляет собой объединенную полосу пропускания осциллографа и измерительной установки.
5.2 Калибровочная катушка
В данном подразделе определены размер, толщина и характеристики калибровочных катушек 1 и 2. |
Рисунок 1 - Калибровочные катушки 1 и 2
| |
5.2.2 Толщина и материал карты с калибровочной катушкой | |
Калибровочный коэффициент разомкнутой цепи для калибровочной катушки 1 составляет 0,318 В (среднеквадратичное значение) на ампер на метр (среднеквадратичное значение) [эквивалентно 900 мВ (двойная амплитуда) на ампер на метр (среднеквадратичное значение)]. |
5.3 Испытательная установка PCD
Определены две испытательные установки PCD: |
коаксиально соединен.
Рисунок 2 - Принципиальная схема испытательной установки
| |
5.3.1 Испытательная антенна PCD |
Рисунок 3 - Испытательная установка PCD 1 и испытательная установка PCD 2
|
5.4 Эталонные PICC
Эталонные PICC предназначены для проверки способности PCD:
- генерировать поле напряженностью не менее H и не более H;
- передавать мощность на PICC;
- передавать модулированный сигнал на PICC;
- получать модулированный сигнал нагрузки от PICC
в пределах своей рабочей области.
5.4.1 Размеры эталонной PICC
Эталонная PICC должна состоять из области высотой и шириной формата ID-1 по ИСО/МЭК 7810:2003, содержащей катушки индуктивности. Другая область, внешняя по отношению к первой, содержащая микросхему, эмулирующую требуемые функции PICC, должна быть присоединена таким образом, чтобы обеспечивать ее размещение в испытательных установках без создания помех испытаниям. Размеры должны быть такими, как показано на рисунке 4.
Рисунок 4 - Размеры эталонной PICC
Рисунок 4 - Размеры эталонной PICC
5.4.2 Конструкция эталонной PICC |
Рисунок 5 - Электрическая схема эталонной PICC
Примечание - Положение d перемычки - J1 - RFU.
|
Таблица 2 - Список компонентов эталонной PICC
Компонент | Значение |
L1 | См. приложение D |
L2 | См. приложение D |
R1 | 1,8 кОм |
R2 | От 0 до 2 кОм |
R3 | 220 Ом |
R4 | 51 кОм |
R5 | 51 Ом |
R6 | 500 кОм |
R7 | 110 кОм |
R8 | 51 Ом |
R9 | 1,5 кОм |
С1 | От 7 до 50 пФ |
С2 | От 3 до10 пФ |
С3 | 27 пФ |
С4 | 1 нФ |
D1, D2, D3, D4 | BAR43S или аналог |
Dz | BZX84, 15 В, или аналог |
Q1a, Q1b | BCV61А или аналог |
Q2 | BSS83 или аналог |
CMF1, CMF2, CMF3, CMF4 | АСМ3225-102-2Р или аналог |
CON1, CON2, CON3, CON4 | Радиочастотный соединитель |
Необходимо использовать многовитковый потенциометр (число витков 10). |
На CON1 должен быть подан сигнал нагрузочной модуляции. Нагрузочная модуляция может быть определена в испытательной установке PCD. Если генератор сигнала нагрузочной модуляции не используют, то он должен быть отключен или установлен на 0 В.
Нагрузку эталонной PICC можно настраивать с помощью напряжения на CON2 до тех пор, пока на CON3 не появится требуемое напряжение постоянного тока.
Напряжение постоянного тока эталонной PICC может быть измерено на CON3 с помощью вольтметра с высоким импедансом, при этом соединительные провода должны быть скручены или быть коаксиальными.
Параметры формы сигнала PCD подбирают на CON4, используя пробник осциллографа с высоким импедансом. Провод заземления пробника осциллографа с высоким импедансом должен быть как можно короче, менее 20 мм, или коаксиально соединен.
Положение а перемычки J2 используют для испытаний при скоростях передачи fc/128, fc/64, fc/32 и fc/16 бит/с. |
(Введены дополнительно. Изм.A4:2012.)
5.4.3 Настройка резонансной частоты эталонной PICC
Резонансная частота эталонной PICC должна быть откалибрована с использованием следующей процедуры.
a) Установить перемычку J1 в положение а.
b) Подключить калибровочную катушку непосредственно к генератору сигналов, а соединитель CON3 эталонной PICC - к вольтметру с высоким импедансом. Подключить все остальные соединители к тем же устройствам, что и при испытании.
c) Расположить эталонную PICC на расстоянии d=10 мм над калибровочной катушкой таким образом, чтобы оси двух катушек (калибровочной катушки и главной катушки эталонной PICC) совпали (см. рисунок 6).
d) Возбудить калибровочную катушку с набором синусоидальных колебаний на нужной резонансной частоте.
e) Настроить емкости С1 и С2 эталонной PICC для достижения максимального постоянного тока на CON3.
f) Настроить уровень возбуждения генератора сигналов, чтобы получить на CON3 напряжение постоянного тока . |
h ) Откалибровать испытательную установку PCD, чтобы создать рабочий режим с H на калибровочной катушке.
i) Поместить эталонную PICC в положение DUT в испытательной установке PCD. Переключить перемычку J1 в положение b и настроить R2 для получения напряжения постоянного тока . Измеряемого на соединителе COM3. Режим рабочего поля проверить, контролируя напряжение на калибровочной катушке, и при необходимости настроить. |
j) Повторить этапы от b) до g) с полученным значением R2.
Примечание - Вместо генератора сигналов может быть использован векторный анализатор цепей, если обеспечивается достаточная мощность для создания на CON3 при достижении максимальной резистивной части измеренного комплексного сопротивления калибровочной катушки. |
Рисунок 6 - Принципиальная схема настройки частоты эталонной PICC
Рисунок 6 - Принципиальная схема настройки частоты эталонной PICC
5.5 Испытательная установка EMD
5.5.1 Общее описание | |
5.5.2 Вычисление зависимости мощности от времени | |
5.5.3.1 Процедура испытания |
6 Испытания по параметрам, установленным в ИСО/МЭК 14443-1
6.1 Испытания PCD
6.1.1 Переменное магнитное поле
6.1.1.1 Назначение
Данное испытание устанавливает, что PCD генерирует поле, не превышающее среднего значения, установленного в ИСО/МЭК 14443-1:2008, во всех возможных положениях PICC.
6.1.1.2 Процедура испытаний
а) Настроить эталонную PICC на 19 МГц, как описано в перечислениях а)-g) 5.4.3.
b) Откалибровать испытательную установку PCD для получения среднего значения поля, установленного в ИСО/МЭК 14443-1:2008 (пункт 4.4), на калибровочной катушке.
c) Поместить эталонную PICC в положение DUT в испытательной установке PCD. Переключить перемычку J1 в положение b и настроить R2 для получения напряжения постоянного тока 3 В. Измеряемого на соединителе CON3. Режим рабочего поля проверяют, контролируя напряжение на калибровочной катушке, и при необходимости настраивают.
ПРЕДУПРЕЖДЕНИЕ - Значение R2 должно быть в пределах от 55 до 65 В.
d) Установить эталонную PICC в любое возможное положение PICC. Напряжение постоянного тока на CON3 не должно превышать 3 В.
e) Если оно превышает, то использовать один тот же коэффициент пересчета, чтобы измерить максимальное и среднее напряжение постоянного тока и преобразовать в напряженность поля для проверки максимального и среднего значений поля, установленных в ИСО/МЭК 14443-1:2008 (пункт 4.4), за период 30 с.
6.1.1.3 Протокол испытаний
Протокол испытаний должен содержать значение напряжения постоянного тока. Измеренное на CON3.
6.2 Испытания PICC
6.2.1 Переменное магнитное поле
Цель данного испытания - проверить поведение PICC при воздействии переменного магнитного поля на частоте 13,56 МГц.
6.2.1.1 Оборудование
Для создания переменного магнитного поля используют испытательную установку PCD.
6.2.1.2 Процедура испытаний
Применяют следующую процедуру.
a) Отрегулировать радиочастотную мощность, подаваемую генератором сигналов на испытательную антенну PCD, до достижения напряженности поля среднего уровня по ИСО/МЭК 14443-1:2008 (пункт 4.4). Измеряемой при помощи калибровочной катушки. |
b) Поместить испытуемую PICC в положение DUT и при необходимости сразу перенастроить радиочастотный передатчик в испытательной антенне PCD на требуемую напряженность поля.
c) По истечении 5 мин убрать PICC из положения DUT как минимум на 5 с.
d) Отрегулировать радиочастотную мощность, подаваемую генератором сигналов на испытательную антенну PCD, до достижения напряженности поля максимального уровня по ИСО/МЭК 14443-1:2008 (пункт 4.4). Измеряемой при помощи калибровочной катушки. |
e) Поместить испытуемую PICC в положение DUT и при необходимости сразу перенастроить радиочастотный передатчик в испытательной антенне PCD на требуемую напряженность поля.
f) Применять в течение 5 мин. 100% амплитудную модуляцию (ASK) для этого поля со следующим циклом нагрузки: |
g) Проверить, что PICC работает надлежащим образом.
6.2.1.3 Протокол испытаний
В протоколе испытаний должно быть указано, работает PICC надлежащим образом или нет.
6.2.2 Испытание на воздействие статического электричества
Цель данного испытания - проверить работу интегральной схемы карты при воздействии электростатического разряда (ESD) на испытуемый образец. Испытуемую PICC подвергают воздействию имитируемого электростатического разряда (ESD, модель человеческого тела) и затем проверяют ее основные функции (см. рисунок 7).
Рисунок 7 - Цепь испытания на воздействие ESD
Рисунок 7 - Цепь испытания на воздействие ESD
6.2.2.1 Оборудование
См. МЭК 61000-4-2:2008.
a) Основные технические характеристики генератора ESD:
- накопительная емкость - 150 пФ ±10%;
- разрядное сопротивление - 330 Ом ±10%;
- зарядное сопротивление - от 50 до 100 МОм;
- время нарастания - от 0,7 до 1 нc.
b) Предпочтительные характеристики оборудования:
- тип оборудования: настольный;
- метод разряда: прямое воздействие воздушного разряда на испытуемое оборудование;
- разрядные электроды генератора ESD: зонд диаметром 8 мм с круглым наконечником.
6.2.2.2 Процедура испытания
Подключить штырь заземления оборудования к электропроводной пластине, на которой размещена PICC.
Приложить разряд последовательно в нормальной полярности к каждой из 20 зон, показанных на рисунке 8. Далее повторить эту же процедуру с обратной полярностью. Необходимо выдерживать интервал не меньше 10 с для охлаждения между последовательными разрядными импульсами.
ВНИМАНИЕ - Если PICC содержит контакты, то их поверность должна быть обращена вверх, а зона, включающая в себя контакты, не должна подвергаться воздействию этого разряда.
По завершении испытания проверить, работает ли PICC надлежащим образом.
Рисунок 8 - Тестовые зоны PICC при испытании на воздействие ESD
Рисунок 8 - Тестовые зоны PICC при испытании на воздействие ESD
6.2.2.3 Протокол испытаний
В протоколе испытаний должно быть указано, работает ли PICC надлежащим образом или нет.
7 Испытания по параметрам, установленным в ИСО/МЭК 14443-2
7.1 Испытания PCD
7.1 Испытания PCD | ||||||||
Все испытания PCD, описанные ниже, должны быть проведены в его рабочей области, как определено изготовителем PCD, для каждого поддерживаемого класса. | ||||||||
Класс | Эталонная PICC | , В | R2, Ом | R2, Ом | Испытательная установка PCD | |||
1 | 1 | 6 | 870 | 1070 | Испытательная установка PCD 1 | |||
2 | 2 | 4,5 | 1030 | 1260 | Испытательная установка PCD 1 | |||
3 | 3 | 4,5 | 1080 | 1320 | Испытательная установка PCD 1 | |||
4 | 4 | 4,5 | 990 | 1210 | Испытательная установка PCD 2 | |||
5 | 5 | 4,5 | 960 | 1170 | Испытательная установка PCD 2 | |||
6 | 6 | 4,5 | 700 | 900 | Испытательная установка PCD 2 | |||
Примечание - Для может быть установлено значение 4,5 В для всех классов в следующих изданиях ИСО/МЭК 10373-6. |
7.1.1 Напряженность поля PCD
7.1.1.1 Цель
Данное испытание предназначено для измерения напряженности поля, создаваемого PCD в его рабочей области.
Примечание - В данном испытании учитывают нагрузку PICC на PCD.
Максимальное и минимальное значения напряженности поля, используемые с каждой эталонной PICC, указаны в ИСО/МЭК 14443-2:2010/Изм. А2:2012 (таблица 1). |
7.1.1.2 Процедуры испытаний
Для H применяют следующую процедуру.
a) Настроить эталонную PICC на частоту 19 МГц, как описано в перечислениях а)-g) 5.4.3.
b) Откалибровать испытательную установку PCD, чтобы создать рабочий режим с H на калибровочной катушке.
c) Поместить эталонную PICC в положение DUT в испытательной установке PCD. Переключить перемычку J1 в положение b и настроить R2 таким образом, чтобы получить напряжение постоянного тока 3 В. Измеряемое на соединителе CON3. В качестве альтернативы перемычку J1 установить в положение с, и подаваемое на CON2 напряжение настраивать до получения напряжения постоянного тока 3 В на соединителе CON3. В обоих случаях режим рабочего поля проверять, контролируя напряжение на калибровочной катушке, и при необходимости настроить.
ПРЕДУПРЕЖДЕНИЕ - Значение R2 должно быть в пределах от 75 до 85 Ом. Проверить этот диапазон хотя бы один раз перед использованием альтернативного метода.
d) Расположить эталонную PICC в пределах рабочей области испытуемого PCD. Напряжение постоянного тока на CON3 не должно превышать 3 В.
Для H применяют следующую процедуру.
a) Настроить эталонную PICC на частоту 13,56 МГц, как описано в 5.4.3.
b) Поместить эталонную PICC в положение DUT в испытательной установке PCD, создающей рабочий режим с H на калибровочной катушке. Проверить, что перемычка J1 установлена в положение b и напряжение постоянного тока , как определено в таблице 3. Измеряют на соединителе CON3. В качестве альтернативы перемычка J1 может быть установлена в положение с, и напряжение на CON2 настраивают для получения напряжения постоянного тока согласно таблице 3 на соединителе CON3. В обоих случаях режим рабочего поля должен быть проверен путем контроля напряжения на калибровочной катушке и при необходимости настроен. |
7.1.4 Коэффициент модуляции и форма колебаний сигнала
7.1.4.1 Цель
Цель данного испытания - определить коэффициент модуляции поля PCD, а также время нарастания и время спада и значения выбросов, как определено в ИСО/МЭК 14443-2, для всех поддерживаемых скоростей передачи от PCD к PICC. |
7.1.4.2 Процедура испытаний
a) Установить калибровочную катушку в произвольном положении в установленной рабочей области и вывести данные напряжения катушки индуктивности на подходящий осциллограф. Определить коэффициент модуляции и характеристики формы колебаний сигнала, используя инструментарий для анализа, определенный в приложении Е.
b) Настроить эталонную PICC на частоту 16,5 МГц, как описано в перечислениях а)-g) 5.4.3, и переключить перемычку J1 в положение с.
c) Поместить эталонную PICC в определенном положении в рабочей области PCD.
d) Приложить и настроить напряжение постоянного тока на CON2 таким образом, чтобы получить напряжение постоянного тока на соединителе CON3 , как определено в таблице 3. |
Примечание 1 - Если напряжение постоянного тока 6 В не может быть достигнуто при выбранном положении, то для испытания используют максимально достижимое напряжение.
e) Если немодулированное напряжение на CON4. Измеренное с помощью подходящего осциллографа (требования по 5.1.1), ниже 1 В (двойная амплитуда), то следует использовать другую воспринимающую катушку для определения характеристик формы колебания сигнала.
Примечание 2 - Другая воспринимающая катушка должна иметь форму восьмерки с радиусом 15 мм и быть расположена дальше всего от эталонной PICC для минимизации взаимодействия и как можно ближе к антенне PCD для минимизации наведенного напряжения.
f) Определить коэффициент модуляции и характеристики формы колебаний сигнала по напряжению на CON4 или на противоположной воспринимающей катушке, используя инструментарий для анализа, определенный в приложении Е.
g) Повторить этапы с с) по f) для различных положений в пределах рабочей области и для всех поддерживаемых скоростей передачи от PCD к PICC. |
Примечание 3 - Выбранное положение калибровочной катушки в пределах рабочей области не влияет на результат.
Примечание 4 - Нагрузка эталонной PICC не означает наихудший эффект нагрузки PICC. Самый высокий эффект нагрузки может быть достигнут с помощью резонансных частот, близких к несущим частотам (т.е. 15 или 13,56 МГц).
7.1.4.3 Протокол испытаний
Протокол испытаний должен содержать измеренное значение коэффициента модуляции поля PCD, время нарастания и время спада, а также значения выбросов в пределах рабочей области в нагруженном и ненагруженном состояниях.
7.1.5 Прием сигнала нагрузочной модуляции
7.1.5.1 Цель
Цель данного испытания - проверить, что PCD безошибочно регистрирует нагрузочную модуляцию PICC, соответствующую требованиям ИСО/МЭК 14443-2, для скоростей передачи fc/128, fc/8, fc/4 и fc/2 от PICC к PCD, если такие поддерживаются. |
7.1.5.2 Процедура испытаний
Эталонная PICC и процедура ее калибровки позволяют определить чувствительность PCD к нагрузочной модуляции. Эталонная PICC не эмулирует эффект нагрузки всех типов PICC.
a) Настроить эталонную PICC на частоту 13,56 МГц, как описано в 5.4.3, и переключить перемычку J1 в положение с.
b) Поместить эталонную PICC в определенном положении в рабочей области PCD.
c) Приложить и настроить напряжение постоянного тока на CON2 таким образом, чтобы получить напряжение постоянного тока на соединителе CON3 согласно таблице 3. |
d) Увеличивать амплитуду модулированного сигнала на CON1 для получения откликов до тех пор, пока PCD не обнаружит не менее 10 последовательных откликов.
e) Поместить эталонную PICC в положение DUT в испытательной установке PCD.
f) Настроить испытательную установку PCD для создания напряженности поля Н, которое даст такое же напряжение на CON3, и зафиксировать соответствующую напряженность поля путем считывания напряжения на калибровочной катушке.
g) Измерить амплитуду нагрузочной модуляции эталонной PICC согласно описанию в 7.2.1 и сравнить ее с нормальным предельным значением, соответствующим зафиксированному значению напряженности поля. Этот измеренный уровень определяет критерий чувствительности PCD для сравнения с нормальным предельным значением и выполнения этих контрольных измерений.
h) Повторить этапы от b) до g) для различных положений в пределах рабочей области для скоростей передачи fc/128, fc/8, fc/4 и fc/2 от PICC к PCD, если такие поддерживаются. |
i) Повторить этапы с а) по h) с резонансной частотой эталонной PICC 15 МГц.
Любое положение, в котором чувствительность PCD больше нормального предельного значения, считают не соответствующим рабочей области.
Примечание 1 - Эффективность испытания может быть расширена при использовании дополнительных резонансных частот ниже 13,56 МГц, например, 12 и 10 МГц.
Примечание 2 - Чувствительность PCD должна быть ниже нормального предельного значения для обеспечения хорошего приема сигнала нагрузочной модуляции PICC.
Примечание 3 - В данном испытании не проверяют, что прием PCD не зависит от фазы нагрузочной модуляции PICC. Следовательно, данное испытание не гарантирует безошибочный прием никакой PICC, соответствующей требованиям ИСО/МЭК 14443-2:2010.
7.1.5.3 Протокол испытаний
Протокол испытаний должен содержать данные о чувствительности PCD к нагрузочной модуляции в положениях, подвергаемых испытанию.
7.1.6 Испытание на устойчивость PCD к EMD | |
e) Непосредственно после этой тестовой последовательности, без интервала, послать соответствующий ответ PICC на команду PCD с амплитудой модулирующего сигнала нагрузки . Измеренной в соответствии с 7.2.1, уровнем выше, например, в два раза, чем минимальное значение применяемой напряженности поля Н. |
Рисунок Amd.2.1 - Испытание на устойчивость PCD (общее для типа А и типа В)
| |
7.1.6.3 Протокол испытаний | |
c) Поместить эталонную PICC в положение DUT в испытательной установке PCD. Переключить перемычку J1 в положение с и настроить напряжение постоянного тока на CON2 таким образом, чтобы получить напряжение постоянного тока 6 В на соединителе CON3. Режим рабочего поля проверять, контролируя напряжение на калибровочной катушке, и настроить напряжение при необходимости. |
Рисунок Amd.2.2 - Последовательность испытания на восстановление после воздействия EMD (общая для типа А и типа В)
|
Рисунок Amd.2.3 - Тестовая последовательность для испытания на восстановление после воздействия EMD (тип А)
|
Рисунок Amd.2.4 - Тестовая последовательность для испытания на восстановление после воздействия EMD (тип В)
| |
g) Проверить, работает ли PCD в том же порядке, как если бы тестовой последовательности не было. Это можно определить путем проверки следующей команды PCD, идущей за ответом PICC (см. рисунок Amd.2.2). |