ГОСТ Р 71058-2023 Микросхемы интегральные. Запоминающие устройства. Система параметров

Наименование группы

Обозначение классификационной группы

Оперативные запоминающие устройства (ОЗУ)

1

Матрицы оперативных запоминающих устройств (матрицы ОЗУ)

2

Постоянные запоминающие устройства (ПЗУ)

3

Постоянные запоминающие устройства с возможностью однократного программирования (ППЗУ)

4

Матрицы постоянных запоминающих устройств (матрицы ПЗУ)

5

Постоянные запоминающие устройства с возможностью многократного электрического перепрограммирования (РПЗУ)

6

Постоянные запоминающие устройства с ультрафиолетовым стиранием и электрической записью информации (РПЗУ с УФ-стиранием)

7

Ассоциативные запоминающие устройства

8

Наименование параметра

Буквенное обозначение параметра

Пара-

метры,

Способ задания

Обозна-

чение

Примечание

Русское

Между-

народное

подле-

жащие обяза-

тельному включе-

нию в ТУ

нормы

класси-

фикаци-

онной группы

1 Параметры запоминающих устройств

1.1 Выходное напряжение

-

Р, ОП

1-8

-

1.2 Выходное напряжение низкого уровня

+

ОП

1-8

-

1.3 Выходное напряжение высокого уровня

+

ОП

1-8

-

1.4 Напряжение питания в режиме хранения

-

ОП

1, 2, 8

-

1.5 Входной ток

-

ОП

1-8

-

1.6 Входной ток низкого уровня

+

ОП

1-8

-

1.7 Входной ток высокого уровня

+

Р, ОП

1-8

-

1.8 Выходной ток высокого уровня

+

Р, ОП

1-8

Для микросхем с открытым коллектором

1.9 Ток потребления

+

Р, ОП

1-8

-

1.10 Ток потребления i-го источника питания

+

ОП

1, 3, 4, 6-8

Для микросхем с несколькими источниками питания

1.11 Динамический ток потребления

+

ОП

1-8

-

1.12 Ток потребления в состоянии "Выключено"

-

ОП

1-8

Для микросхем с тремя состояниями на выходе

1.13 Ток потребления в режиме хранения

+

ОП

1-8

-

1.14 Ток утечки высокого уровня на входе

+

ОП

1-8

Для МДП-

микросхем

1.15 Ток утечки низкого уровня на входе

+

ОП

1-8

То же

1.16 Ток утечки на выходе

-

ОП

1-8

"

1.17 Ток утечки низкого уровня на выходе

+

ОП

1-8

"

1.18 Ток утечки высокого уровня на выходе

+

ОП

1-8

"

1.19 Выходной ток в состоянии "Выключено"

-

ОП

1-8

Для микросхем с тремя

1.20 Выходной ток низкого уровня в состоянии "Выключено"

+

ОП

1-8

состояниями на выходе

1.21 Выходной ток высокого уровня в состоянии "Выключено"

+

ОП

1-8

1.22 Ток сигнала стирания

+

Р

6

-

1.23 Ток сигнала программирования

+

Р

4, 6, 7

Для микросхем, имеющих вывод "программи-

рование"

1.24 Время выборки

+

ОП

1-7

-

1.25 Время выборки адреса

+

ОП

1-7

-

1.26 Время выборки разрешения

+

ОП

1-7

-

1.27 Время восстановления

-

ОП, Р

1-8

-

1.28 Время хранения информации при отключенном питании

+

ОП

6, 7

-

1.29 Время хранения информации при включенном питании

+

ОП

6, 7

-

1.30 Время поиска

-

+

ОП

8

-

1.31 Время регенерации

+

ОП

1

Для динамических ОЗУ

1.32 Потребляемая мощность

+

ОП

1-8

-

1.33 Потребляемая мощность i-го источника питания

+

ОП

1, 3, 4, 6-8

Для микросхем с несколькими источниками питания

1.34 Удельная потребляемая мощность

-

ОП

1-8

-

1.35 Динамическая потребляемая мощность

-

ОП

1-8

-

1.36 Потребляемая мощность в режиме хранения

-

ОП

1-8

-

1.37 Входная емкость

+

ОП

1-8

-

1.38 Выходная емкость

+

ОП

1-8

-

1.39 Число циклов перепрограммирования

+

ОП

6, 7

-

1.40 Информационная емкость

Q

+

Н

1-8

-

1.41 Число информационных слов

q

q

+

Н

1-8

-

1.42 Число разрядов в информационном слова

n

n

+

Н

1-8

-

1.43 Коэффициент программируемости

+

ОП

4

-

2 Параметры режима эксплуатации и измерений

2.1 Напряжение питания

+

НР, Н

1-8

-

2.2 Напряжение i-го источника питания

+

НР, Н

1, 3, 4, 6-8

Для микросхем с несколькими источниками питания

2.3 Напряжение питания в режиме хранения

-

ОП

1, 2, 8

-

2.4 Входное напряжение

-

Р, ОП

1-8

-

2.5 Входное напряжение низкого уровня

+

Р, ОП

1-8

-

2.6 Входное напряжение высокого уровня

+

Р, ОП

1-8

-

2.7 Напряжение сигнала программирования

+

Р

4, 6, 7

Для микросхем, имеющих вывод "программи-

рование"

2.8 Напряжение сигнала стирания

+

Р

6

-

2.9 Выходной ток

-

Р, ОП

1-8

2.10 Выходной ток низкого уровня

+

Р, ОП

1-8

2.11 Выходной ток высокого уровня

+

Р, ОП

1-8

2.12 Время установления входных сигналов

+

ОП

1-8

-

2.13 Время удержания

+

ОП, Р

1-8

-

2.14 Время сохранения сигнала

+

ОП, Р

1-8

-

2.15 Время цикла

-

ОП, Р

1-8

Норма "Р" для динамических ОЗУ

2.16 Время цикла записи

+

ОП, Р

1, 2, 4, 6-8

Норма "Р" для динамических ОЗУ

2.17 Время цикла считывания

+

ОП, Р

1-8

Норма "Р" для динамических ОЗУ

2.18 Время цикла стирания

+

ОП

6

-

2.19 Длительность сигнала

+

ОП, Р

1-8

-

2.20 Длительность сигнала записи

+

ОП, Р

1, 2, 4, 6-8

-

2.21 Длительность сигнала считывания

+

ОП, Р

1-8

-

2.22 Время фронта нарастания сигнала

+

ОП

1-8

-

2.23 Время фронта спада сигнала

+

ОП

1-8

-

2.24 Сопротивление нагрузки

-

ОП, НР

1-8

-

2.25 Емкость нагрузки

+

ОП

1-8

-

Примечания

1 Для указания способа задания норм на параметры применены следующие обозначения:

- Н - номинальное значение параметра;

- НР - номинальное значение параметра с двухсторонним допускаемым отклонением (разбросом);

- Р - двухсторонние границы значения параметра (разброса) без указания номинального значения;

- ОП - односторонний предел значения параметра без указания номинального значения.

2 Необходимость включения в ТУ на конкретные типы запоминающих устройств параметров, не отмеченных как обязательные, а также дополнительных параметров, определяет разработчик совместно с заказчиком и основным потребителем.

3 В ТУ могут включаться производные параметров 1.24, 1.27, 2.12, 2.13, 2.14, буквенные обозначения которых образовывают по способу, указанному в ГОСТ Р 57441.

В этом случае способ задания норм на эти параметры следует брать из таблицы 2 для соответствующего параметра, как основного.

4 Параметры 2.1 (2.2), 2.5, 2.6, 2.10, 2.11, 2.25 дополнительно включают в таблицу предельно допустимых и предельных режимов эксплуатации.

Наименование параметра

Обозначение классификационной группы

Информационная емкость

1-8

Количество информационных слов

1-8

Количество разрядов в информационном слове

1-8

Время выборки

1-7

Время поиска

8

Динамический ток потребления (динамическая потребляемая мощность)

1-8

Ток потребления (потребляемая мощность) в режиме хранения

1-8

Количество циклов перепрограммирования информации

6, 7

Время хранения информации при отключенном питании

6, 7

Наименование

Контроль соответствия требованиям

параметра-

критерия годности

к конст-

рукции

стойкости к внешним воздействующим факторам

надежности

на воз-

дейст-

к упа-

ковке

Виды испытаний

вие

на тепло-

стой-

кость при

на вибро-

устой-

чивость

на вибро-

проч-

ность

на удар-

ную проч-

ность

на воз-

дейст-

вие оди-

на воз-

дейст-

вие линей-

на

воз-

дейст-

вие акус-

на воз-

дейст-

вие повы-

шен-

на

воз-

дейст-

вие пони-

на воз-

дейст-

вие изме-

нения

крат-

ко-

вре-

мен-

ное

дли-

тель-

ное

на воз-

дейст-

вие атмо-

на воз-

дейст-

вие повы-

на воз-

дейст-

вие инея и росы

на воз-

дейст-

вие запа-

на без-

отказ-ность

на сохра-

няе-

мость

на хра-

нение при повы-

спе-

циаль-

ных фак-

торов

пайке

ноч-

ных уда-

ров

ного уско-

рения

тичес-

кого шума

ной темпе-

ратуры среды при экс-

плуа-

тации

жен-

ной тем-

пера-

туры среды при экс-

плуа-

тации

темпе-

ратуры окру-

жаю-

щей среды

на воздействие повышенной влажности воздуха

сфер-

ного пони-

жен-

ного дав-

ления

шен-

ного дав-

ления

сов устой-

чи-

вости к воз-

дейст-

вию меха-

ничес-

ких, тепло-

вых и элек-

тричес-

ких нагру-

зок

шен-

ной тем-

пера-

туре

Параметры функциона-

льного контроля

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

Выходное напряжение низкого уровня

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

Выходное напряжение высокого уровня (выходной ток высокого уровня)

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

Входной ток низкого уровня

1-8

1-8

1-8

1 8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

Входной ток высокого уровня

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

Ток потребления

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

Выходной ток в состоянии "Выключено"

-

-

-

-

-

-

-

-

1-8

1-8

1-8

1-8

1-8

-

-

1-8

1-8

-

1-8

Время выборки и другие параметры, наиболее полно характери-

зующие микросхему по быстродей-

ствию

-

-

-

-

-

-

-

-

1-8

1-8

-

-

-

-

-

-

1-8

1-8

-

-

Примечания

1 Принадлежность параметров-критериев годности к различным видам испытаний указана сочетанием обозначений соответствующих классификационных групп и буквы "о" для запоминающих устройств категорий качества ВП, ОС, ОСМ.

2 Параметры функционального контроля выбирают из таблицы 2.

Наименование типовой характеристики

Обозначение характеристики

Характеристики, подлежащие обязательному включению в ТУ

Обозначение классифика-

ционной группы

Зависимость динамического тока потребления от температуры

+

1-8

Зависимость динамического тока потребления от напряжения питания

+

1-8

Зависимость динамического тока потребления от частоты следования импульсов тактовых сигналов

-

1-8

Зависимость тока потребления в режиме хранения от температуры

+

1-8

Зависимость времени хранения информации при отключенном питании от количества циклов перепрограммирования

+

6, 7

Зависимость времени хранения информации при отключенном питании от температуры

+

6, 7

Зависимость времени выборки от температуры

+

1-7

Зависимость времени выборки от напряжения питания

+

1-7

Зависимость времени выборки от емкости нагрузки

+

1-7

Зависимость времени поиска от температуры

+

8

Зависимость времени поиска от напряжения питания

+

8

Зависимость времени поиска от емкости нагрузки

+

8

Примечание - Необходимость включения в ТУ характеристик, не отмеченных как обязательные, а также дополнительных характеристик, определяет разработчик совместно с заказчиком и основным потребителем запоминающих устройств.

УДК 621.316.8:006.354

ОКС 31.040.99

Ключевые слова: микросхемы интегральные запоминающиеся устройства, система параметров, классификация, основные параметры, параметры-критерии годности, типовые характеристики