ГОСТ Р 71047-2023 Микросхемы интегральные. Формирователи и генераторы импульсов напряжения прямоугольной формы. Система параметров

Наименование параметра

Буквенное обозначение параметра

Параметры, подлежащие

Способ задания

Примечание

Русское

Между-

народное

обязательному включению в ТУ

нормы

1 Параметры микросхемы

Амплитуда импульсов выходного напряжения

-

+

Р, НР, ОП

-

Выходное напряжение покоя

-

ОП

Для микросхем, работающих в ждущем режиме

Напряжение срабатывания

+

ОП

То же

Ток потребления

+

Р, ОП

-

Входной ток

+

ОП

-

Ток утечки на входе

+

ОП

-

Потребляемая мощность

+

Р, ОП

-

Полярность выходных

положит.

-

-

-

-

импульсов

отрицат.

+

-

-

Частота импульсов выходного напряжения

+

Р, НР

-

Частота генерирования

+

Р, НР

Для автоколебательных микросхем

Скважность импульсов выходного напряжения

Q

-

Р, НР

-

Время восстановления

-

ОП

Для микросхем, работающих в ждущем режиме

Время задержки

-

ОП

То же

Время установления выходного напряжения

-

ОП

-

Время установления частоты выходного напряжения (генерирования)

-

СП

-

Длительность импульсов выходного напряжения*

+

Р, НР, ОП

-

Длительность фронта импульсов выходного напряжения*

+

ОП

-

Длительность среза импульсов выходного напряжения*

+

ОП

-

Выброс на вершине импульсов выходного напряжения*

-

-

ОП

-

Выброс в паузе импульса выходного напряжения*

-

-

ОП

-

Неравномерность вершины импульса выходного напряжения*

-

-

ОП

-

Относительная нестабильность амплитуды импульсов выходного напряжения

-

-

ОП

-

Относительная нестабильность частоты генерирования

+

ОП

-

Относительная нестабильность скважности импульсов выходного напряжения

-

-

ОП

Для автоколебательных микросхем

Относительная нестабильность длительности импульсов выходного напряжения

-

-

ОП

-

Температурный коэффициент частоты генерирования

-

-

ОП, НР

-

Температурный коэффициент длительности импульсов выходного напряжения

-

-

-

-

2 Параметры режима эксплуатации и измерений

Напряжение питания

-

Р, НР

-

Амплитуда запускающих импульсов

-

+

НР, Р, ОП

Для микросхем, работающих в ждущем режиме

Втекающий ток на выходе схемы

-

+

ОП

Для микросхем, сопрягаемых с логическими схемами

Вытекающий ток на выходе схемы

-

+

ОП

То же

Рассеиваемая мощность

+

ОП

-

Полярность запускающих

положит.

-

-

-

-

импульсов

отрицат.

-

+

-

-

Частота запускающих импульсов

-

+

НР, ОП

Для микросхем, работающих в ждущем режиме

Период запускающих импульсов

-

-

НР, ОП

-

Длительность запускающих импульсов

-

+

ОП, Р, НР

-

Длительность фронта запускающих импульсов

-

+

ОП

Для микросхем, работающих в ждущем режиме

Амплитуда импульсов выходного тока*

+

ОП

-

Сопротивление нагрузки

+

ОП

Для микросхем с аналоговым выходом

Емкость нагрузки

+

ОП

-

* Параметры указаны на чертеже прямоугольного импульса, приведенного в приложении А (рисунок А.1).

Примечания

1 Для указания способа задания нормы приняты следующие обозначения:

- Н - номинальное значение параметра;

- НР - номинальное значение параметра с двухсторонним допускаемым отклонением (разбросом);

- Р - двухсторонние границы значения параметра (разброс) без указания номинального значения;

- ОП - односторонний предел значения параметра без указания номинального значения.

2 Необходимость включения в ТУ на конкретные типы микросхемы параметров, не отмеченных как обязательные, определяются разработчиком совместно с заказчиком и основным потребителем изделий.

3 Допускается вместо параметра "относительная нестабильность частоты генерирования" вводить параметр "температурный коэффициент частоты генерирования".

4 Параметры, подлежащие обязательному включению в ТУ, отмечены знаком "+".

5 При необходимости состав параметров на конкретные типы микросхем может быть дополнен параметрами, отмеченными знаком "-" и не оговоренными таблицей 1.

Наименование типовой характеристики

Обозначение типовой характеристики

Характеристики, подлежащие обязательному включению в ТУ

Зависимость времени задержки от температуры

-

Зависимость времени задержки от напряжения питания

-

Зависимость длительности импульса выходного напряжения от температуры

-

Зависимость длительности импульса выходного напряжения от напряжения питания

+

Зависимость длительности импульса выходного напряжения от значения параметров навесных элементов (для микросхем, предусматривающих подключение внешних элементов)

+

Зависимость частоты импульсов выходного напряжения (генерирования) от температуры

+

Зависимость частоты импульсов выходного напряжения (генерирования) от напряжения питания

+

Зависимость частоты импульсов выходного напряжения (генерирования) от значения параметров навесных элементов (для схем, предусматривающих подключение внешних элементов)

+

Зависимость амплитуды импульсов напряжения от температуры

+

Зависимость амплитуды импульсов выходного напряжения от напряжения питания

+

Зависимость амплитуды импульсов выходного напряжения от сопротивления нагрузки

+

Зависимость входного тока от амплитуды запускающих импульсов

-

Зависимость тока утечки на входе от температуры

-

Зависимость тока потребления от температуры

+

Зависимость тока потребления от напряжения питания

+

Зависимость фронта, среза импульсов выходного напряжения от емкости нагрузки

+

Зависимость времени установления выходного напряжения от температуры

-

Зависимость времени установления выходного напряжения от напряжения питания

Зависимость времени установления частоты выходного напряжения (генерирования) от температуры

-

Зависимость времени установления частоты выходного напряжения (генерирования) от напряжения питания

-

Примечания

1 В технически обоснованных случаях состав типовых характеристик микросхем допускается расширять.

2 В ТУ допускается проводить типовые характеристики в нормированном виде.

Наименование

Контроль соответствия требованиям

параметра-критерия

к конст-

рукции

стойкости к внешним воздействующим факторам

надежности

на стой-

кость к

к упа-

ковке

годности

Виды испытаний

воздейст-

на тепло-

стой-

на виброус-

тойчи-

на вибро-

проч-

на удар-

ную проч-

на воздейст-

вие

на воздейст-

вие

на воздейст-

вие

на воздействие повышенной влажности воздуха

на воздейст-

вие

на воздейст-

вие

на воздейст-

вие

на воздейст-

вие

на воздейст-

вие

на безотказ-

ность

на сохра-

няе-

на хране-

ние при

на стой-

кость к воздейст-

вию специаль-

ных

кость при пайке

вость

ность

ность

линей-

ного уско-

рения

одино-

чных ударов

акусти-

ческого шума

кратко-

времен-

ное

дли-

тельное

изме-

нения темпе-

ратуры окру-

жаю-

щей среды

повы-

шенной темпе-

ратуры среды при эксп-

луата-

ции

повы-

шен-

ного давле-

ния

атмо-

сфер-

ного пони-

женного давле-

ния

инея и росы

мость

повы-

шенной темпе-

ратуре

вию спе-

циаль-

ных факто-

ров

фак-

торов

Амплитуда импульсов выходного напряжения

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

-

+

Ток потребления

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

-

+

Длительность импульсов выходного напряжения

+

-

-

-

-

-

-

-

-

-

+

+

-

-

-

+

+

+

-

-

Относительная нестабильность частоты генерирования

+

-

-

-

-

-

-

+

+

+

+

+

-

-

+

+

+

+

-

-

Длительность фронта (среза) импульсов выходного напряжения

+

-

-

-

-

-

-

-

-

-

+

+

-

-

-

+

+

+

-

-

Примечания

1 Принадлежность параметров-критериев годности к различным видам испытаний указана знаком "+".

2 Состав параметров-критериев годности микросхем при испытании на стойкость к воздействию специальных факторов устанавливают в ТУ.

УДК 621.316.8:006.354

ОКС 31.080.99

Ключевые слова: микросхемы интегральные, формирователи и генераторы импульсов напряжения, система параметров, основные параметры, типовые характеристики, параметры-критерии годности